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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29032. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29032
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29033. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29033
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29034. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29034
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)A.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29035. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29035
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29036. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29036
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29037. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29037
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29038. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29038
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29039. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29039
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29040. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29040
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29041. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29041
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29042. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29042
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29043. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29043
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29044. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29044
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29045. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29045
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29046. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29046
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0　ミス.

(備考)β.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29047. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29047
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29048. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29048
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29049. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29049
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29050. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29050
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29051. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29051
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29052. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29052
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29053. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29053
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)↓　s increase.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29054. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29054
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29055. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29055
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29056. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29056
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29057. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29057
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29058. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29058
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ 前面とG逆.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29059. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29059
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29060. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29060
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)δ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29061. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29061
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)↓ s increase.

(備考)δ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29062. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29062
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)δ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29063. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29063
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29064. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29064
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)δ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29065. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29065
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29066. Cu, G871, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29066
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29067. Cu, G871, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29067
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29068. Cu, G871, 200℃, SS., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29068
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29069. Cu, G871, 200℃, SS, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29069
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29070. Cu, G871, 200℃, SS, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29070
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29071. Cu, G871, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29071
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29072. Cu, G871, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29072
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29073. Cu, G871, 200℃, SS, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29073
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29074. Cu, G871, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29074
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A β.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29075. Cu, G871, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29075
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　β.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29076. Cu, G871, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29076
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B β.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29077. Cu, G871, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29077
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29078. Cu, G871, 200℃, SS, DF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29078
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A β.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29079. Cu, G871, 200℃, SS, DF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29079
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B β.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29080. Cu, G871, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29080
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　β.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29081. Cu, G871, 200℃, SS, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29081
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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