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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30034. Ni, A099, RTNS-II, 290℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30034
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30035. Ni, A099, RTNS-II, 290℃, S, BF., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30035
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30036. Ni, A099, RTNS-II, 290℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30036
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30037. Ni, A099, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30037
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30038. Ni, A099, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30038
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30039. Ni, A099, RTNS-II, 290℃, S, BF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30039
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30040. Ni, A099, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30040
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30041. Ni, A099, RTNS-II, 290℃, S, BF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30041
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30042. Ni, A099, RTNS-II, 290℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30042
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30043. Ni, A099, RTNS-II, 290℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30043
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30044. Ni, A099, RTNS-II, 290℃, S., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30044
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30045. Ni, A099, RTNS-II, 290℃, S, BF, 31K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30045
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30046. Ni, A099, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30046
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)boundary近傍　ボイドいる？.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30047. Ni, A099, RTNS-II, 290℃, S, BF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30047
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)boundary近傍　ボイドいる？.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30048. Ni, A099, RTNS-II, 290℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30048
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)boundary近傍　ボイドいる？.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30049. Ni, A099, RTNS-II, 290℃, S, BF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30049
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)boundary近傍　ボイドいる？.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30050. Ni, A099, RTNS-II, 290℃, S, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30050
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)boundary近傍　ボイドいる？.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30051. Ni, A118, RTNS-II, 290℃, W, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30051
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30052. Ni, A118, RTNS-II, 290℃, W, BF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30052
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30053. Ni, A118, RTNS-II, 290℃, W, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30053
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30054. Ni, A118, RTNS-II, 290℃, W, BF., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30054
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30055. Ni, A118, RTNS-II, 290℃, W, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30055
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30056. Ni, A099, RTNS-II, 290℃, S., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30056
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30057. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30057
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30058. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30058
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30059. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30059
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30060. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30060
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30061. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30061
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30062. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30062
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30063. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30063
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30064. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30064
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30065. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30065
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30066. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, BF., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30066
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30067. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30067
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30068. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30068
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30069. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30069
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30070. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30070
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30071. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30071
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30072. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30072
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30073. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30073
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30074. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30074
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30075. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30075
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30076. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30076
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30077. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30077
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30078. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30078
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30079. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30079
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30080. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, BF., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30080
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30081. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30081
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30082. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30082
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30083. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30083
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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