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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3944. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3944
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3945. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3945
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3946. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, DF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3946
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3947. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3947
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3948. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3948
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3949. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3949
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3950. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3950
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3951. Ni, A10, RTNS-II　Abe, RT, M, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3951
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A10. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3952. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3952
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3953. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3953
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3954. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3954
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3955. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 9.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3955
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)9.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3956. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3956
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3957. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3957
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3958. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3958
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3959. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3959
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3960. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3960
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3961. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3961
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3962. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3962
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3963. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3963
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3964. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3964
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3965. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3965
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3966. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3966
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3967. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3967
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3968. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, BF, 9.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3968
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)9.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3969. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3969
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3970. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3970
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3971. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3971
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3972. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3972
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3973. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3973
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3974. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3974
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3975. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3975
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3976. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3976
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3977. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3977
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3978. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, 9.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3978
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (条件・倍率等)9.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3979. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3979
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3980. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3980
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3981. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3981
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3982. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3982
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3983. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3983
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3984. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3984
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3985. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3985
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3986. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3986
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3987. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3987
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3988. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3988
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4156. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4156
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4157. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4157
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4158. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4158
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4159. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4159
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4160. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4160
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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