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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32473. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32473
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32474. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32474
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32475. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32475
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32476. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32476
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32477. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32477
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　　-32.3黒11.5（100）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32478. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32478
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32479. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32479
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32480. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32480
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32481. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32481
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β’　　32.3黒11.5（80）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32482. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32482
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β’.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32483. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32483
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β’.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32484. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32484
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32485. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32485
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)酸化激しく他にareaなし.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32486. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32486
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32487. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32487
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32488. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32488
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上9（-）黒9（160）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32489. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32489
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32490. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32490
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32491. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32491
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32492. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32492
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32493. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32493
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　-8.0　黒5（120）A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32494. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32494
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32495. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32495
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32496. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32496
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32497. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32497
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32498. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32498
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32499. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32499
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32500. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32500
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32501. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32501
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　A　　-2.0　11（140）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32502. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32502
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32503. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32503
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32504. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32504
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32505. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32505
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32506. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32506
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32507. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32507
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)ED.

(備考)β　A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32508. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32508
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)ED.

(備考)β　B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32509. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32509
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32510. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32510
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32511. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32511
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32512. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, ED, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32512
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s↓.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32513. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32513
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32514. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, ED, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32514
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)52K.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32515. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32515
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32516. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32516
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32517. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32517
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32518. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32518
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32519. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32519
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32520. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32520
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32521. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32521
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32522. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32522
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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