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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32573. Cu-0.05Sn, G714, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32573
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G714. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32574. Cu-0.3Sn, G694, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32574
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G694. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　α　　＋5.2　赤2（260）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32575. Cu-0.3Sn, G694, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32575
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G694. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　α.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32576. Cu-0.3Sn, G694, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32576
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G694. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32577. Cu-0.3Sn, G694, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32577
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G694. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32578. Cu-0.3Sn, G694, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32578
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G694. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32579. Cu-0.3Sn, G694, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32579
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G694. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32580. Cu-0.3Sn, G694, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32580
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G694. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32581. Cu-0.3Sn, G694, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32581
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G694. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32582. Cu-0.3Sn, G694, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32582
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G694. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　　＋12.2　赤4（0）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32583. Cu-0.3Sn, G694, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32583
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G694. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32584. Cu-0.3Sn, G694, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32584
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G694. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32585. Cu-0.3Sn, G694, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32585
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G694. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32586. Cu-0.3Sn, G694, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32586
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G694. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32587. Cu-0.3Sn, G694, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32587
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G694. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32588. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32588
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　下2.5（＋）赤5（200）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32589. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32589
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3).

(備考)α　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32590. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32590
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3.5).

(備考)α　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32591. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32591
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32592. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32592
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　　下8（＋）赤16（60）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32593. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32593
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0（3）.

(備考)β.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32594. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32594
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0（3.5）.

(備考)β.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32595. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32595
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32596. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32596
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32597. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32597
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32598. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32598
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32599. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32599
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32600. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32600
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32601. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32601
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32602. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32602
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32603. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32603
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32604. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32604
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32605. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32605
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　　　上8.5（-）　0（0）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32606. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32606
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32607. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32607
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32608. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32608
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32609. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32609
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32610. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32610
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　動くSFT.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32611. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32611
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　動くSFT.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32612. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32612
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　動くSFT.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32613. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32613
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32614. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32614
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32615. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32615
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32616. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32616
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32618. Au-120Cu, G576, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32618
範囲と内容

(試料)Au-120Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)G576. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上29　赤11（320）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32619. Au-120Cu, G576, RTNS-II, 200℃, S., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32619
範囲と内容

(試料)Au-120Cu. (試料番号)G576. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)　　　↓ｇ.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32620. Au-120Cu, G576, RTNS-II, 200℃, S., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32620
範囲と内容

(試料)Au-120Cu. (試料番号)G576. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32621. Au-120Cu, G576, RTNS-II, 200℃, S., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32621
範囲と内容

(試料)Au-120Cu. (試料番号)G576. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32622. Au-120Cu, G576, RTNS-II, 200℃, S., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32622
範囲と内容

(試料)Au-120Cu. (試料番号)G576. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32623. Au-120Cu, G576, RTNS-II, 200℃, S., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32623
範囲と内容

(試料)Au-120Cu. (試料番号)G576. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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