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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33124. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, BF., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33124
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)void？.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33125. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, DF., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33125
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)SA　diff.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33126. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, DF., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33126
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33127. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, BF., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33127
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33128. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33128
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33129. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33129
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)under.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33130. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, BF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33130
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)少しオーバへ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33131. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33131
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33132. Cu-0.3Si, G584, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33132
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G584. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33133. Cu-0.3Si, G584, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33133
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G584. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33134. Cu-0.3Si, G584, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33134
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G584. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33135. Cu-0.3Si, G584, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33135
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G584. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)ボイドではない.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33136. Cu-0.3Si, G584, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33136
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G584. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33137. Cu-0.3Si, G584, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33137
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G584. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33138. Cu-0.3Si, G584, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33138
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G584. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33139. Cu-0.3Si, G584, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33139
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G584. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33140. Cu-0.3Si, G584, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33140
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G584. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33141. Cu-0.3Si, G584, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33141
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G584. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33142. Cu-0.3Si, G584, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33142
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G584. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33143. Cu-0.2Ge, G644, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33143
範囲と内容

(試料)Cu-0.2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G644. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33144. Cu-0.2Ge, G644, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33144
範囲と内容

(試料)Cu-0.2Ge. (試料番号)G644. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33145. Cu-0.2Ge, G644, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33145
範囲と内容

(試料)Cu-0.2Ge. (試料番号)G644. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33146. Cu-0.2Ge, G644, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33146
範囲と内容

(試料)Cu-0.2Ge. (試料番号)G644. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33147. Cu-0.2Ge, G644, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33147
範囲と内容

(試料)Cu-0.2Ge. (試料番号)G644. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33148. Cu-0.2Ge, G644, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33148
範囲と内容

(試料)Cu-0.2Ge. (試料番号)G644. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33149. Cu-0.2Ge, G644, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33149
範囲と内容

(試料)Cu-0.2Ge. (試料番号)G644. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33150. Cu-0.2Ge, G644, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33150
範囲と内容

(試料)Cu-0.2Ge. (試料番号)G644. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33151. Cu-0.2Ge, G644, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33151
範囲と内容

(試料)Cu-0.2Ge. (試料番号)G644. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33152. Cu-0.2Ge, G644, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33152
範囲と内容

(試料)Cu-0.2Ge. (試料番号)G644. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33153. Cu-0.2Ge, G644, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33153
範囲と内容

(試料)Cu-0.2Ge. (試料番号)G644. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33154. Cu-0.2Ge, G644, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33154
範囲と内容

(試料)Cu-0.2Ge. (試料番号)G644. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33155. Cu-0.3Si, G684, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33155
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33156. Cu-0.3Si, G684, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33156
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33157. Cu-0.3Si, G684, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33157
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33158. Cu-0.3Si, G684, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33158
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33159. Cu-0.3Si, G684, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33159
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33160. Cu-0.3Si, G684, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33160
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33161. Cu-0.3Si, G684, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33161
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33162. Cu-0.3Si, G684, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33162
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33163. Cu-0.3Si, G684, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33163
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33164. Cu-0.3Si, G684, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33164
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33165. Cu-0.3Si, G684, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33165
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G684. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33166. Au, A459, RTNS-II, 450℃, W, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33166
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A459. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下7.5、黒6（200）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33167. Au, A459, RTNS-II, 450℃, W., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33167
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A459. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33168. Au, A459, RTNS-II, 450℃, W., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33168
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A459. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33169. Au, A459, RTNS-II, 450℃, W., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33169
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A459. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33170. Au, A459, RTNS-II, 450℃, W., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33170
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A459. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4.5).

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33171. Au, A459, RTNS-II, 450℃, W, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33171
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A459. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33172. Au, A424, RTNS-II, 400℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33172
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)400℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33173. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33173
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (EM/D3)EM. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　上3.5（-）赤3（0）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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