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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4272. Au, AD222, RTNS-II　Abe, RT, W, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4272
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD222. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4273. Au, AD222, RTNS-II　Abe, RT, W, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4273
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD222. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4274. Au, AD222, RTNS-II　Abe, RT, W, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4274
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD222. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4275. Au, AD222, RTNS-II　Abe, RT, W, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4275
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD222. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4276. Au, AD222, RTNS-II　Abe, RT, W, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4276
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD222. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4277. Au, AD222, RTNS-II　Abe, RT, W, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4277
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD222. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4278. Au, AD222, RTNS-II　Abe, RT, W, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4278
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD222. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4279. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 31K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4279
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4280. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 31K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4280
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4281. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 31K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4281
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4282. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4282
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4283. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4283
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4284. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4284
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4285. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4285
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4286. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4286
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4287. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4287
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4288. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4288
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4289. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4289
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4290. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4290
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4291. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4291
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4292. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4292
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4293. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4293
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4294. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4294
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4295. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4295
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4296. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4296
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4297. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4297
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4298. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4298
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4299. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4299
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4300. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4300
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4301. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4301
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4302. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4302
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4303. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4303
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4304. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4304
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4305. Au, AD210, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4305
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD210. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4507. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4507
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4508. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4508
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4509. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4509
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4510. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4510
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4511. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4511
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4512. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4512
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4513. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4513
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4514. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4514
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4515. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4515
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4516. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4516
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4517. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4517
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4518. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4518
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4519. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4519
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4520. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4520
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4521. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4521
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4522. Ni, A3, RTNS-II　, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4522
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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