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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35773. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35773
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35774. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35774
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35775. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35775
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35776. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35776
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35777. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35777
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35778. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35778
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35779. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35779
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)隣のgrain　大傾斜.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35780. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35780
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　st.1　＋0　赤1（240）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35781. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35781
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35782. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35782
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35783. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35783
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　　FC＋5　.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35784. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35784
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　　FC-5.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35785. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35785
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35786. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35786
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35787. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35787
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35788. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35788
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35789. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35789
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B　　FC＋3.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35790. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35790
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B　　FC＋3.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35791. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35791
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)B　大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35792. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35792
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A　st.2　-2.5　黒5（120）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35793. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35793
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35794. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35794
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35795. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35795
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35796. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35796
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35797. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35797
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35798. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35798
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35799. Cu-0.3Si, π364　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35799
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)π364　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35800. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35800
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　st.1　＋10　赤1（120）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35801. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35801
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35802. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35802
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35803. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35803
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35804. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35804
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35805. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35805
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35806. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35806
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35807. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35807
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)FC＋4　　コンタミ区別のため.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35808. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35808
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)FC-4.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35809. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35809
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2　＋11　赤7（120）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35810. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35810
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35811. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35811
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35812. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35812
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35813. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35813
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35814. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35814
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35815. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35815
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35816. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35816
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35817. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35817
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35818. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35818
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B　FC＋4.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35819. Cu-0.3Sn, π547　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35819
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)π547　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35820. Cu-0.3Ni, π247　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年]12/3.

 アイテム
資料番号: O-35820
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)π247　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考) contami多い. 日付元記載「12/3」.

日付: [1986年]12/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35821. Cu-0.3Ni, π247　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年]12/3.

 アイテム
資料番号: O-35821
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)π247　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年]12/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35822. Cu-0.3Ni, π247　Kohyama, RTNS-II, RT, S', DF, 52K., [1986年]12/3.

 アイテム
資料番号: O-35822
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)π247　Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年]12/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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