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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36430. Ni, B115, RTNS-II, 200℃, S, DF., [1986年12月7日.]

 アイテム
資料番号: O-36430
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B115. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)F　β.

日付: [1986年12月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36431. Ni, B115, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年12月7日.]

 アイテム
資料番号: O-36431
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B115. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)F　β.

日付: [1986年12月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36432. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36432
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36433. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36433
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36434. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 31K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36434
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36435. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36435
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36436. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36436
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36437. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36437
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別のgrain　A　α　-6黒0～3（240）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36438. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36438
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36439. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36439
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36440. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 31K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36440
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36441. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36441
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36442. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36442
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36443. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36443
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36444. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 31K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36444
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36445. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36445
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36446. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36446
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　β　　-8.5赤3～6（160）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36447. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36447
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36448. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36448
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36449. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 31K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36449
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36450. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 31K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36450
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36451. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36451
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36452. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36452
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別のgrain　A　loop　.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36453. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36453
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　　loop.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36454. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 31K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36454
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)A　　loop.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36455. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36455
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36456. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36456
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36457. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, DF, 31K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36457
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)B.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36458. Ni, B114, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36458
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B114. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36459. Ni, B115, RTNS-II, 200℃, S, DF, 31K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36459
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B115. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36460. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36460
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　α　　-8.2黒1（40）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36461. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, ↓., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36461
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)↓. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36462. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36462
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36463. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36463
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36464. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36464
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36465. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36465
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　β　　-14.2黒7（20）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36466. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36466
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36467. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36467
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36468. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36468
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36469. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36469
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36470. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36470
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C　α　　-14.2　黒5（100）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36471. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, ↓., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36471
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)↓. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36472. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36472
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36473. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36473
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36474. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36474
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36475. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36475
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)E　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36476. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36476
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)E　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36477. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36477
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)F　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36478. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36478
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)F　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36479. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36479
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)F　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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