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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42222. Cu, C　阿部, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42222
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ｓマイナス　間違い.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42223. Cu, C　阿部, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42223
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ｓマイナス　間違い.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42224. Cu, C　阿部, RTNS-II, RT, ED., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42224
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42225. Cu, C　阿部, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42225
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ｓプラス.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42226. Cu, C　阿部, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42226
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ｓプラス.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42227. Cu, C　阿部, RTNS-II, RT, ED., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42227
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42228. Cu, C　阿部, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42228
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42229. Cu, A　阿部, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42229
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)コンタミ少しあり.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42230. Cu, A　阿部, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42230
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42231. Cu, A　阿部, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42231
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42232. Cu, A　阿部, RTNS-II, RT, BF, 100K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42232
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42233. Cu, A　阿部, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42233
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42234. Cu, A　阿部, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42234
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42235. Cu, A　阿部, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42235
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42236. Cu, A　阿部, RTNS-II, RT, ED., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42236
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42237. Cu, A　阿部, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42237
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42238. Cu, A　阿部, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42238
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42239. Cu, A　阿部, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42239
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42240. Cu, A　阿部, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42240
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42241. Cu, A　阿部, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42241
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42242. Cu, A　阿部, RTNS-II, RT, BF, 52K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42242
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42243. Cu, A　阿部, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42243
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42244. Cu, A　阿部, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42244
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42245. Cu, A　阿部, RTNS-II, RT, DF, 100K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42245
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42246. Cu, A　阿部, RTNS-II, RT, DF, 52K., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42246
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-42247. Cu, A　阿部, RTNS-II, RT, ED., [1987年6月8日.]

 アイテム
資料番号: O-42247
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年6月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85118. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85118
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋21.5赤18.0（0）. 日付元記載「7/2」.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85119. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85119
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85120. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85120
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85121. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, BF, 31K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85121
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85122. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85122
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)22.0sks18.0（0）.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85123. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85123
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85124. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85124
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85125. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85125
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)just　2 1/2D.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85126. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85126
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)over　two　steps.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85127. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85127
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)under　two　steps.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85128. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85128
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋13.5赤24（180）.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85129. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85129
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85130. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85130
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85131. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85131
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)β. 実験者元記載「M.K.（以上を意味する」）」.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85140. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85140
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)？.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85141. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85141
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)？.

(備考)実験者元記載「小笠原（以上を意味する」）」.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85142. Ni-0.3Sn, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/2.

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資料番号: O-85142
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　-2.5赤0.5（200）. 日付元記載「7/2」.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85143. Ni-0.3Sn, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85143
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85144. Ni-0.3Sn, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85144
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α　.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85145. Ni-0.3Sn, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85145
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α　.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85146. Ni-0.3Sn, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85146
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　-5.5黒8（100）.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85147. Ni-0.3Sn, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85147
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85148. Ni-0.3Sn, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85148
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β. 実験者元記載「M.K.（以上を意味する」）」.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88598. Ni-２Cu, A922, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88598
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)A922. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)ノートには実験者名「桐谷」は記載されていない。.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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