桐谷, 道雄, 1932-2003
個人
13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, シリーズ] L-88677. Ag, Cu Ion照射, RT, DF, 100K., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88677
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)loopの動き 焼鈍実験. 日付元記載「8/4」. 実験者元記載「桐谷. 三間.」.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88678. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88678
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)loopの動き.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88679. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88679
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)loopの動き.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88680. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88680
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)A α -9.10（0）.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88681. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88681
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)B α.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88682. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88682
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)C α.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88683. Ag, Cu Ion照射, RT, DF, 100K., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88683
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)A -4.5黒5（20）.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88684. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88684
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)B .
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88685. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88685
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)C .
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88686. Ag, Cu Ion照射, RT, ED., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88686
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88687. Ag, Cu Ion照射, RT, DF, 100K., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88687
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)A.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88688. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88688
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)B.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88689. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88689
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)C.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88690. Ag, Cu Ion照射, RT, BF, 100K., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88690
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88691. Ag, Cu Ion照射, RT, BF., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88691
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)BF.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88692. Ag, Cu Ion照射, RT, BF., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88692
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)BF.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88693. Ag, Cu Ion照射, RT, DF, 100K., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88693
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)A 1回目加熱 coolde down.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88694. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88694
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)B.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88695. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88695
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)C.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88696. Ag, Cu Ion照射, RT, BF, 100K., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88696
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)A.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88697. Ag, Cu Ion照射, RT, BF., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88697
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)B.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88698. Ag, Cu Ion照射, RT, BF., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88698
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)C.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88699. Ag, Cu Ion照射, RT, DF, 100K., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88699
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)A 2回目加熱 8.00ｍV.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88700. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88700
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)B.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88701. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88701
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)C.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88702. Ag, Cu Ion照射, RT, BF, 100K., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88702
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)A .
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88703. Ag, Cu Ion照射, RT, BF., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88703
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)B.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-88704. Ag, Cu Ion照射, RT, BF., [1993年]8/4.
アイテム
資料番号: L-88704
範囲と内容
(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)C.
日付:
[1993年]8/4.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89145. Ni-0.3Sn., [1993年9月7日.]
アイテム
資料番号: L-89145
範囲と内容
(試料)Ni-0.3Sn. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
(備考)5ｘ104. 実験者元記載「桐谷, 永井」.
日付:
[1993年9月7日.]
[ネガフィルム, シリーズ] L-89146. Ni-0.3Sn., [1993年9月7日.]
アイテム
資料番号: L-89146
範囲と内容
(試料)Ni-0.3Sn.
日付:
[1993年9月7日.]
[ネガフィルム, シリーズ] L-89147. Ni-0.3Sn., [1993年9月7日.]
アイテム
資料番号: L-89147
範囲と内容
(試料)Ni-0.3Sn.
日付:
[1993年9月7日.]
[ネガフィルム, シリーズ] L-89148. Ni-0.3Sn., [1993年9月7日.]
アイテム
資料番号: L-89148
範囲と内容
(試料)Ni-0.3Sn.
日付:
[1993年9月7日.]
[ネガフィルム, シリーズ] L-89149. Ni-0.3Sn., [1993年9月7日.]
アイテム
資料番号: L-89149
範囲と内容
(試料)Ni-0.3Sn.
日付:
[1993年9月7日.]
[ネガフィルム, シリーズ] L-89150. Ni-0.3Sn., [1993年9月7日.]
アイテム
資料番号: L-89150
範囲と内容
(試料)Ni-0.3Sn. (ブラック条件からのずれs)↓.
日付:
[1993年9月7日.]
[ネガフィルム, シリーズ] L-89151. Ni-0.3Sn., [1993年9月7日.]
アイテム
資料番号: L-89151
範囲と内容
(試料)Ni-0.3Sn.
日付:
[1993年9月7日.]
[ネガフィルム, シリーズ] L-89152. Ni-0.3Sn., [1993年9月7日.]
アイテム
資料番号: L-89152
範囲と内容
(試料)Ni-0.3Sn.
日付:
[1993年9月7日.]
[ネガフィルム, シリーズ] L-89153. Ni-0.3Sn., [1993年9月7日.]
アイテム
資料番号: L-89153
範囲と内容
(試料)Ni-0.3Sn.
日付:
[1993年9月7日.]
[ネガフィルム, シリーズ] L-89154. Ni-0.3Sn., [1993年9月7日.]
アイテム
資料番号: L-89154
範囲と内容
(試料)Ni-0.3Sn.
日付:
[1993年9月7日.]
[ネガフィルム, シリーズ] L-89155. Ni-0.3Sn, BF., [1993年9月7日.]
アイテム
資料番号: L-89155
範囲と内容
(試料)Ni-0.3Sn. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)loopの写真 1.5ｘ104 .
日付:
[1993年9月7日.]
[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート 2 北大 桐谷研 1985.〜1985.11.26. 8179〜14889., 1985.[7.8]〜1985.11.26. [表紙記載より, ノート内記載開始月日「7/8」より. ], [1985-07-08/1985-11-26.]
アイテム
資料番号: O- 2
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
1985.[7.8]〜1985.11.26. [表紙記載より, ノート内記載開始月日「7/8」より. ]; [1985-07-08/1985-11-26.]
[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート No 9 1986 10/11〜10/15. 32751〜33648., 1986 10/11〜10/15. [表紙記載より.], [1986-10-11/1986-10-15.]
アイテム
資料番号: O- 9
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
1986 10/11〜10/15. [表紙記載より.]; [1986-10-11/1986-10-15.]
[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート No 10 1986 10/15〜12/7. 33649〜36432., 1986 10/15〜12/7. [表紙記載より.], [1986-10-15/1986-12-07.]
アイテム
資料番号: O-10
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
1986 10/15〜12/7. [表紙記載より.]; [1986-10-15/1986-12-07.]
[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート NO 11 1986 12/7〜. 36432〜42247., 1986 12/7〜[1987(昭和62).6.8]. [表紙記載より, ノート内記載終了日付「62/6/8」より.], [1986-12-07/1987-06-08.]
アイテム
資料番号: O-11
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
1986 12/7〜[1987(昭和62).6.8]. [表紙記載より, ノート内記載終了日付「62/6/8」より.]; [1986-12-07/1987-06-08.]
[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート NO.3 1985.11.26〜1986.2.13 北大 桐谷研. O-14890〜19329, 1985.11.26〜1986.2.13. [表紙記載より.], [1985-11-26/1986-02-13.]
アイテム
資料番号: O- 3
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
1985.11.26〜1986.2.13. [表紙記載より.]; [1985-11-26/1986-02-13.]
[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート NO.4 1986.2.13〜6.18 北大 桐谷研, 1986.2.13〜6.18. [表紙記載より.], [1986-02-13/1986-06-18.]
アイテム
資料番号: O- 4
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
1986.2.13〜6.18. [表紙記載より.]; [1986-02-13/1986-06-18.]
[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート No.5 1986.6.19〜7.30. O-23997 - 27918., 1986.6.19〜7.30. [表紙記載より.], [1986-06-19/1986-07-30.]
アイテム
資料番号: O- 5
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
1986.6.19〜7.30. [表紙記載より.]; [1986-06-19/1986-07-30.]
[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート No.6 1986.7.31〜8.3 8/6 北大 桐谷研. O-27919〜29109., 1986.7.31〜8.3 8/6. [表紙記載より.], [1986-07-31/1986-08-03.]
アイテム
資料番号: O- 6
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
1986.7.31〜8.3 8/6. [表紙記載より.]; [1986-07-31/1986-08-03.]
[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート No.7 1986.8/3〜8/5 北大 桐谷研. O-29110〜29959., 1986.8/3〜8/5. [表紙記載より.], [1986-08-03/1986-08-05.]
アイテム
資料番号: O- 7
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
1986.8/3〜8/5. [表紙記載より.]; [1986-08-03/1986-08-05.]
[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX EMノート No.8 1986 8/5〜10/11 北大 桐谷研. O-29960〜32750., 1986 8/5〜10/11. [表紙記載より.], [1986-08-05/1986-10-11.]
アイテム
資料番号: O- 8
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
1986 8/5〜10/11. [表紙記載より.]; [1986-08-05/1986-10-11.]
[記録ノート, Oシリーズ] 大洗 200CX用 電顕ノート 1. 4276～8178., [1985年 1月10日〜 6月26日.] [ノート内記載より.], [1985-01-10/1985-06-26.]
アイテム
資料番号: O- 1
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
[1985年 1月10日〜 6月26日.] [ノート内記載より.]; [1985-01-10/1985-06-26.]
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
- 北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
- ニッケル 3302
- 金 2647
- 銅合金 1996
- 銅 1534
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
- ニッケル合金 327
- ステンレス鋼 322
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
- 銀 244
- 鉄 227
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
- ゲルマニウム 85
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
- 資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
- バナジウム 19
- モリブデン 18
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
- ノート 12
- 材料試験 12
- 記録ノート Notebooks 12
- 電子顕微鏡 12
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
- Collection 1
- アルミニウム 1
- アルミニウム合金 1
- ムライト 1
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
- 写真 1
- 原子炉材料 1
- 格子欠陥 1
- 炭化珪素 1
- 珪素 1
- 結晶構造 1
- 金属材料 1
- 金属複合材料 1
- 鉄合金 1