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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6332. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6332
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　　β.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6333. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6333
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6334. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6334
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6335. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6335
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6336. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6336
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6337. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6337
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6339. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6339
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)日付元記載「1985.5.9」. 実験者元記載「Kojima」.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6340. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF, 80K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6340
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6341. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6341
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)2枚あり.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6342. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6342
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6343. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6343
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)just.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6344. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6344
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)5 step over.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6345. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6345
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)5 step under.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6346. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6346
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6347. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6347
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6348. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6348
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6349. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6349
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)3 step over.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6350. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6350
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)3 step under.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6351. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6351
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6352. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6352
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6353. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6353
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6354. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6354
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6355. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6355
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6356. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6356
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6357. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6357
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6358. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF, 160K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6358
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K.

(備考)　17.2 -4　　殆ど動かず.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6359. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6359
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6360. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6360
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6361. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6361
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6362. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF, 160K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6362
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K.

(備考)　-5.5　　24　　殆ど動かず.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6363. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, DF, 160K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6363
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6364. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS?, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6364
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS?. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6365. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6365
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6366. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6366
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6367. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF, 80K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6367
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)同じarea.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6368. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF, 80K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6368
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)同じarea.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6369. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6369
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6370. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6370
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6371. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6371
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6372. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6372
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6373. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6373
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6374. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6374
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6375. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6375
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6376. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6376
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6377. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6377
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6378. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6378
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6379. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6379
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6380. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6380
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6381. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6381
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6382. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6382
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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