桐谷, 道雄, 1932-2003

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84454. TiC, BF, 50K., 1992. 12. 4.

アイテム

資料番号: L-84454

範囲と内容

(試料)TiC. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: 1992. 12. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84460. Ni, DF, 50K., [1992年]12/5（土）.

アイテム

資料番号: L-84460

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)α＋2.6黒26（200）. 日付元記載「12/5（土）」. 実験者元記載「小笠原」, 「（84460〜84466を示し）M.K.」.

日付: [1992年]12/5（土）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84461. Ni, ED., [1992年]12/5（土）.

アイテム

資料番号: L-84461

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]12/5（土）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84462. Ni, BF., [1992年]12/5（土）.

アイテム

資料番号: L-84462

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/5（土）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84463. Ni, DF., [1992年]12/5（土）.

アイテム

資料番号: L-84463

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β＋11.5黒23（100）.

日付: [1992年]12/5（土）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84464. Ni, ED., [1992年]12/5（土）.

アイテム

資料番号: L-84464

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]12/5（土）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84465. Ni, BF., [1992年]12/5（土）.

アイテム

資料番号: L-84465

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/5（土）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84466. Ni, DF., [1992年]12/5（土）.

アイテム

資料番号: L-84466

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/5（土）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84475. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84475

範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)1st　obs. 日付元記載「1992. 12. 7」. 実験者元記載「三間＆桐谷」.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84476. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84476

範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84477. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, 1K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84477

範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)1K.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84478. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, 1K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84478

範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)1K.

(備考)矢印入り.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84479. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, 1K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84479

範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)1K.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84480. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, BF, 50K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84480

範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84481. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, 1K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84481

範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)1K.

(備考)矢印入り.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84482. ？, BF, 20K., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84482

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)日付元記載「1992. 12. 7 pm 18:00」. 実験者元記載「加藤＆桐谷」.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84483. ？, ED., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84483

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84484. ？, ED., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84484

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84485. ？, BF, 50K., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84485

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84486. ？, ED., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84486

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)SAED.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84487. ？., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84487

範囲と内容

(試料)？.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84488. ？, 20K., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84488

範囲と内容

(試料)？. (条件・倍率等)20K.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84489. ？, 50K., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84489

範囲と内容

(試料)？. (条件・倍率等)50K.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84490. ？, 50K., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84490

範囲と内容

(試料)？. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84491. ？, ED., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84491

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84492. ？, BF, 20K., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84492

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84493. ？, BF, 50K., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84493

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84494. ？, ED., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84494

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84495. ？, DF, 50K., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84495

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84576. BaSe, BF, 100K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84576

範囲と内容

(試料)BaSe. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)about　50℃　1-α. 日付元記載「1992. 12. 8」. 実験者元記載「西畑, 井関, 桐谷」.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84577. BaSe, 100K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84577

範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)100K.

(備考)1-α.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84578. BaSe, 100K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84578

範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)100K.

(備考)2-α.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84579. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84579

範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)3-α.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84580. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84580

範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)4-α.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84581. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84581

範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)？.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84582. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84582

範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)1-β？.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84583. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84583

範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)2-β.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84584. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84584

範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)4-β.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84585. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84585

範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)3-β.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84586. BaSe, 100K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84586

範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)100K.

(備考)2-β.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84587. BaSe, 100K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84587

範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)100K.

(備考)1-β.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84588. BaSe, ED., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84588

範囲と内容

(試料)BaSe. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84589. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84589

範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)100℃　10min　anneal(1.15mV,0.52A)　5.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84590. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84590

範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)4.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84591. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84591

範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)5.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84592. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84592

範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)3.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84593. BaSe, 100K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84593

範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)100K.

(備考)2.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84594. BaSe, 100K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84594

範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)100K.

(備考)1.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84595. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84595

範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)150℃　10min　anneal　15：29～(2.30mV,0.608A)　5.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84596. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

アイテム

資料番号: L-84596

範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)4.

日付: 1992. 12. 8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

追加の絞り込み:

13101 コレクションおよび/またはレコード表示: