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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7515. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7515
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)150℃.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7516. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7516
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)150℃.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7517. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7517
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)150℃.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7518. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7518
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)150℃.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7519. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7519
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)150℃　　　上(-)9.5　赤5.5.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7520. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7520
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)200℃.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7521. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7521
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)200℃.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7522. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7522
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)200℃.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7523. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7523
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)200℃.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7524. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7524
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)200℃.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7525. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7525
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)200℃.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7526. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7526
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)200℃.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7527. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7527
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)250℃ C.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7528. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7528
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)250℃ C 1分後.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7529. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7529
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)250℃ B.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7530. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7530
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)250℃ B.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7531. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7531
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)250℃ A.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7532. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7532
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)250℃ A.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7533. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7533
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)250℃.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7534. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7534
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)250℃.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7535. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7535
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)250℃.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7536. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7536
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)250℃.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7537. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7537
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)250℃.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7538. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7538
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影　　A.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7539. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7539
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影　　A.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7540. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7540
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影　　B.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7541. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7541
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影　　B.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7542. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7542
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影　　C.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7543. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7543
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影　　C.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7544. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7544
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影　　C.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7545. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S, 80K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7545
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)80K.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影　　C.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7546. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7546
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影　　C.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7547. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7547
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影　　C.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7548. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7548
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影　　B.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7549. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7549
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影　　B.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7550. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7550
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影　　A.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7551. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7551
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影　　A.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7552. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7552
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影　　A.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7553. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7553
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7554. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7554
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7555. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7555
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7556. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7556
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7557. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7557
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7558. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7558
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7559. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7559
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7560. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7560
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)ED.

(備考)300℃　10分焼鈍後RT撮影.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7561., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7561
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7562. Ni, A792松井, RTNS=II, 20K-->300K, S　1985/11/16, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7562
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A792松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S　1985/11/16. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7563. Ni, A792松井, RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7563
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A792松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7564. Ni, A792松井, RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7564
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A792松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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