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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7998. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, ED., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7998
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)隣のgrain.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7999. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7999
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8000. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-8000
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)他.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8001. Ni., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-8001
範囲と内容

(試料)Ni.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8002. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, ED., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-8002
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)上の15　赤6-9　60.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8003. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-8003
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)fringe.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8004. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-8004
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8005. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8005
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8006. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8006
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8007. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8007
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8008. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8008
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8009. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8009
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8010. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8010
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8011. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8011
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8012. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8012
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8013. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8013
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8014. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8014
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8015. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8015
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8016. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8016
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8017. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8017
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8018. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8018
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8019. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8019
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8020. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8020
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8021. Au, λ103木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8021
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ103木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8022. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8022
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8023. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8023
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8024. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8024
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8025. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8025
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0　5.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8026. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8026
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8027. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8027
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8028. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8028
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8029. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8029
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8030. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8030
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8031. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8031
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8032. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8032
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8033. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8033
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8034. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8034
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8035. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8035
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8036. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8036
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8037. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8037
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8038. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8038
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8039. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8039
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8040. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8040
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8041. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8041
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8042. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8042
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8043. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8043
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8044. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8044
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8045. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8045
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8046. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8046
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8047. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8047
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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