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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8098. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 8K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8098
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8099. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 31K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8099
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8100. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 31K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8100
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8101. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 8K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8101
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8102. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 31K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8102
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8103. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 31K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8103
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8104. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 8K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8104
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8105. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 31K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8105
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)再ケンマの必要あり.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8106. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8106
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8107. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8107
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8108. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8108
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8109. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8109
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8110. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8110
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8111. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8111
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8112. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8112
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8113. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8113
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8114. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8114
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8115. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8115
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8116. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, Fringe　DF, 100., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8116
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)Fringe　DF. (条件・倍率等)100.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8117. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, Fringe　DF, 52K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8117
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)Fringe　DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8118. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, Fringe　DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8118
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)Fringe　DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8119. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8119
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8120. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8120
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8121. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8121
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8122. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8122
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8123. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8123
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8124. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8124
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8125. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8125
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8126. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8127. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8127
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8128. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)ぼつ.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8129. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, Fringe　DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)Fringe　DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8130. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)JUST.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8131. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8131
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8132. Ni, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8132
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8133. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8133
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8134. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8134
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8135. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8135
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8136. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8136
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8137. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8137
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8138. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8138
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8139. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8139
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8140. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8140
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)just.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8141. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8141
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8142. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8142
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8143. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8143
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8144. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8144
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8145. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8145
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8146. Au, RTNS=II, WW, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8146
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8147. Au, RTNS=II., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8147
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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