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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8565. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8565
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考) β.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8566. Au, J784松井, RTNS-II, 77K->RT, S, ED., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8566
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8567. Au, J784松井, RTNS-II, 50℃、20min, S, BF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8567
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)50℃、20min. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A .

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8568. Au, J784松井, RTNS-II, S, BF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8568
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8569. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8569
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8570. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8570
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8571. Au, J784松井, RTNS-II, S, ED., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8571
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8572. Au, J784松井, RTNS-II, 75℃、30min, S, BF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8572
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)75℃、30min. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A .

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8573. Au, J784松井, RTNS-II, S, BF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8573
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8574. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8574
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8575. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8575
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)a＞＞0.

(備考)B.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8576. Au, J784松井, RTNS-II, S, EF., 1985. 7. 9.

 アイテム
資料番号: O-8576
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)EF.

日付: 1985. 7. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8577. BF, 80K., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8577
範囲と内容

(Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8578. Au, J784松井, RTNS-II, 100℃(1.53mV), S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8578
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)100℃(1.53mV). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8579. Au, J784松井, RTNS-II, 60min, S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8579
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60min. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8580. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8580
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8581. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8581
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8582. Au, J784松井, RTNS-II, S, ED., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8582
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8583. Au, J784松井, RTNS-II, 150℃(2.3mV), S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8583
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(2.3mV). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8584. Au, J784松井, RTNS-II, 25min, S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8584
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)25min. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8585. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8585
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8586. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8586
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8587. Au, J784松井, RTNS-II, 200℃(3.15mV), S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8587
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃(3.15mV). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8588. Au, J784松井, RTNS-II, 20min, S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8588
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20min. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8589. Au, J784松井, RTNS-II, S, ED., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8589
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8590. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8590
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8591. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8591
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8592. Au, J784松井, RTNS-II, 250℃, S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8592
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)250℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8593. Au, J784松井, RTNS-II, S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8593
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8594. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8594
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8595. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8595
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8596. Au, J784松井, RTNS-II, 300℃(4.9mV), S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8596
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300℃(4.9mV). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8597. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8597
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8598. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8598
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8599. Au, J784松井, RTNS-II, S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8599
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8600. Au, J784松井, RTNS-II, 350℃（5.8mV), S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8600
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃（5.8mV). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8601. Au, J784松井, RTNS-II, 30min, S, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8601
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)30min. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8602. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8602
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8603. Au, J784松井, RTNS-II, S, DF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8603
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8604. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS, DF, 160K., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8604
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K. (ブラック条件からのずれs)just.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8605. Fe, U407松井, RTNS-II, SS, DF, 160K., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8605
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K. (ブラック条件からのずれs)oveer　2step.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8606. Fe, U407松井, RTNS-II, SS, DF, 160K., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8606
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K. (ブラック条件からのずれs)under　2step.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8607., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8607
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8608. Fe, U407松井, RTNS-II, SS, ED., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8608
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8609. Fe, U407松井, RTNS-II, SS, DF, 160K., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8609
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K. (ブラック条件からのずれs)just.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8610. Fe, U407松井, RTNS-II, SS, DF, 160K., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8610
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K. (ブラック条件からのずれs)over　2step.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8611. Fe, U407松井, RTNS-II, SS, DF, 160K., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8611
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K. (ブラック条件からのずれs)under　2step.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8612. Fe, U407松井, RTNS-II, SS, ED., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8612
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8613. Fe, U407松井, RTNS-II, SS, BF., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8613
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8614. Fe, U407松井, RTNS-II, SS, ED., [1985年7月9日.]

 アイテム
資料番号: O-8614
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年7月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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