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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8665. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8665
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8666. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8666
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8667. Ni, A726木下, RTNS-II, 50℃、～20min, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8667
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)50℃、～20min. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8668. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8668
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8669. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8669
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8670. Ni, A726木下, RTNS-II, M, ED., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8670
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8671. Ni, A726木下, RTNS-II, 75℃、～24min, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8671
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)75℃、～24min. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8672. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8672
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)絞り2番.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8673. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8673
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8674. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8674
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8675. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8675
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)絞り3番.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8676. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., 1985. 7. 10.

 アイテム
資料番号: O-8676
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1985. 7. 10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8677. Ni, A726木下, RTNS-II, 100℃、25min, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8677
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)100℃、25min. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8678. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8678
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8679. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8679
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8680. Ni, A726木下, RTNS-II, 150℃、15min, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8680
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃、15min. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8681. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8681
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8682. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8682
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8683. Ni, A726木下, RTNS-II, 200℃、30分, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8683
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃、30分. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8684. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8684
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8685. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8685
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8686. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8686
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)約2分間隔同一視野.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8687. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8687
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)約2分間隔同一視野.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8688. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8688
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)約2分間隔同一視野.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8689. Ni, A726木下, RTNS-II, M, ED., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8689
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8690. Ni, A726木下, RTNS-II, 250℃、30分, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8690
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)250℃、30分. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8691. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8691
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8692. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8692
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8693. Ni, A726木下, RTNS-II, 350℃、30min, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8693
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃、30min. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8694. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8694
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8695. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8695
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8696. Ni, A726木下, RTNS-II, 400℃、20min, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8696
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)400℃、20min. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8697. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8697
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8698. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8698
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)これ以前s＞＞0.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8699. Ni, A726木下, RTNS-II, M, ED., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8699
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8700. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8700
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8701. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8701
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8702. Ni, A726木下, RTNS-II, M, DF., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8702
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8703. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8703
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

(備考)今迄のarea、contamination or oxidation.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8704. Ni, A726木下, RTNS-II, M, ED., [1985年7月10日.]

 アイテム
資料番号: O-8704
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8705. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF, 80K., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8705
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A. 日付元記載「1985/11/16」.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8706. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF, 80K., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8706
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8707. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, ED., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8707
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8708. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8708
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8709. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, ED., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8709
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8710. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8710
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8711. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8711
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8712. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, ED., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8712
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8713. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8713
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8714. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, EF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8714
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)EF.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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