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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8715. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8715
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8716. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, ED., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8716
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8717. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, ED., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8717
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8718. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8718
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8719. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8719
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8720. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8720
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8721. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, ED., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8721
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8722. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8722
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A. 日付元記載「85/11/16」.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8723. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8723
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8724. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8724
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8725. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8725
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8726. Ni, A677木下, RTNS-II, W, ED., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8726
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8727. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8727
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8728. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8728
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8729. Ni, A677木下, RTNS-II, W, ED., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8729
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8730. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8730
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8731. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8731
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)E.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8732. Ni, A677木下, RTNS-II, W, ED., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8732
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8733. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8733
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8734. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8734
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)E.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8735. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8735
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D3 annealed and polished again.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8736. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8736
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8737. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8737
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8738. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8738
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8739. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8739
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)Fringe.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8740. Ni, A726木下, RTNS-II, ED, 52cm., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8740
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)52cm.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8741. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8741
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

(備考)After 300°5min.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8742. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8742
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8743. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8743
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8744. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8744
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8745. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8745
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8746. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8746
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8747. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8747
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8748. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8748
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8749. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8749
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8750. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8750
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8751. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8751
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8752. DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8752
範囲と内容

(Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8753. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8753
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)After 300℃ 5 min.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8754. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8754
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8755. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8755
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8756. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8756
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8757. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8757
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8758. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8758
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8759. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8759
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8760. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8760
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8761. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8761
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8762. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, ED., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8762
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8763. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8763
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II.

(備考)Polishied after annealing experiment.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8764. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8764
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II.

(備考)A726 ?.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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