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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8765. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8765
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8766. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8766
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8767. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8767
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8768. Ni, A476, RTNS-II, ED, 57cm., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8768
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8769. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8769
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8770. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8770
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8771. Ni, A476, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8771
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8772. Ni, A476, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8772
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8773. Ni, A476, RTNS-II, BF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8773
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8774. Ni, A476, RTNS-II, DE, 57cm., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8774
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8775. Ni, A476, RTNS-II, DF, 800K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8775
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)800K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8776. Ni, A476, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8776
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8777. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8777
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8778. Ni, A476, RTNS-II, ED, 57cm., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8778
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8779. Ni, A476, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8779
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8780. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8780
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8781. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8781
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8782., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8782
範囲と内容

(備考)ボツ.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8783. Ni, A476, RTNS-II, ED, 57cm., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8783
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8784. Ni, A476, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8784
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)Fringe.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8785. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8785
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8786. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8786
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8787. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8787
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8788. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8788
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8789. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8789
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8790. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8790
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8791. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8791
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8792. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8792
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8793. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8793
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8794. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8794
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8795. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8795
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8796. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8796
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8797. Fe, U407松井, RTNS-II, 77K->RT, SS., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8797
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)U407松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)77K-＞RT. (照射量)SS.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8798. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8798
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8799. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8799
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8800. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8800
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8801. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8801
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8802. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8802
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8803. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8803
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8804. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8804
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8805. Ni, A701木下, RTNS-II, WW, ED., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8805
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8806. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8806
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8807. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8807
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8808. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8808
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8809. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8809
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8810. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8810
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8811. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8811
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8812. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8812
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8813. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8813
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8814. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8814
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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