桐谷, 道雄, 1932-2003
13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8815. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8816. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8817. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8818. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8819. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8820. Ni, A701木下, RTNS-II, WW, ED., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8821. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8822. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8823. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8824. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8825. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8826. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8827. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8828. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8829. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8830. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8831. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8832. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8833. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8834. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8835. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]
(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10261. Au, RTNS-II, 150℃∔(8℃cold junction)2.3mV, BF., 1985. 8. 2.
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃∔(8℃cold junction)2.3mV. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)Cryo-traansfer実験(下村)の続き E. 日付元記載「1985. 8. 2」.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10262. Au, RTNS-II, DF., 1985. 8. 2.
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)150℃以上annealingの再開 E.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10263. Au, RTNS-II, BF., 1985. 8. 2.
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)A.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10264. Au, RTNS-II, DB., 1985. 8. 2.
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DB. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)A.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10265. Au, RTNS-II, BF., 1985. 8. 2.
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)B.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10266. Au, RTNS-II, DF., 1985. 8. 2.
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)B.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10267. Au, RTNS-II, ED., 1985. 8. 2.
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)B 1hr 20min after the start of.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10268. Au, RTNS-II, 200℃+9℃, BF., 1985. 8. 2.
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃+9℃. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)A.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10269. Au, RTNS-II, DF., 1985. 8. 2.
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)A.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10270. Au, RTNS-II, BF., 1985. 8. 2.
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)B.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10271. Au, RTNS-II, DF., 1985. 8. 2.
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)B.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10272. Au, RTNS-II, BF., 1985. 8. 2.
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)E.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10273. Au, RTNS-II, DF., 1985. 8. 2.
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)E 55min .
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10274. Au, RTNS-II, 250℃+10℃, BF., 1985. 8. 2.
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)250℃+10℃. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)E.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10275. Au, RTNS-II, DF., 1985. 8. 2.
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)E.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10276. Au, RTNS-II, BF., 1985. 8. 2.
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)A.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10277. Au, RTNS-II, DF., 1985. 8. 2.
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)A.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10278. Au, RTNS-II, BF., 1985. 8. 2.
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)B.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10279. Au, RTNS-II, DF., 1985. 8. 2.
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)B 1hr 25min.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10280. Au, RTNS-II, 300℃, BF., [1985年8月2日.]
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)A.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10281. Au, RTNS-II, DF., [1985年8月2日.]
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)A.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10282. Au, RTNS-II, ED., [1985年8月2日.]
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)A.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10283. Au, RTNS-II, BF., [1985年8月2日.]
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)B.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10284. Au, RTNS-II, DF., [1985年8月2日.]
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)B.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10285. Au, RTNS-II, ED., [1985年8月2日.]
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)B 1hr 10min 観察中5.25mVに上がる.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10286. Au, RTNS-II, BF., [1985年8月2日.]
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)E .
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10287. Au, RTNS-II, DF., [1985年8月2日.]
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)E.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10288. Au, RTNS-II, ED., [1985年8月2日.]
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)E.
[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10289. Au, RTNS-II, 350℃, BF., [1985年8月2日.]
(試料)Au. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)E.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
- 北海道札幌市北区北14条西9丁目 12427
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
- ニッケル 3302
- 金 2647
- 銅合金 1996
- 銅 1534
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
- ニッケル合金 327
- ステンレス鋼 322
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
- 銀 244
- 鉄 227
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
- ゲルマニウム 85
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 36
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
- バナジウム 19
- モリブデン 18
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
- ノート 12
- 材料試験 12
- 記録ノート Notebooks 12
- 電子顕微鏡 12
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
- Collection 1
- アルミニウム 1
- アルミニウム合金 1
- ムライト 1
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
- 写真 1
- 原子炉材料 1
- 格子欠陥 1
- 炭化珪素 1
- 珪素 1
- 結晶構造 1
- 金属材料 1
- 金属複合材料 1
- 鉄合金 1