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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14932. Ni, MK-31, 写真orED., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14932
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)写真orED.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14933. Ni, MK-31, 写真orED., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14933
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)写真orED.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14934. Ni, MK-31, 写真orED., [1985年11月26日.]

 アイテム
資料番号: O-14934
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)写真orED.

日付: [1985年11月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14935. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 27.

 アイテム
資料番号: O-14935
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)over nightでN2蒸発させて電顕観察　A. 日付元記載「1985. 11. 27.」.

日付: 1985. 11. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14936. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 27.

 アイテム
資料番号: O-14936
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14937. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 27.

 アイテム
資料番号: O-14937
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14938. Ni, MK-31, ED., 1985. 11. 27.

 アイテム
資料番号: O-14938
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 11. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14939. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 27.

 アイテム
資料番号: O-14939
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D.

日付: 1985. 11. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14940. Ni, MK-31, ED., 1985. 11. 27.

 アイテム
資料番号: O-14940
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)camera state フーズoffで.

日付: 1985. 11. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14941. Ni, MK-31, ED., 1985. 11. 27.

 アイテム
資料番号: O-14941
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 11. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14942. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 27.

 アイテム
資料番号: O-14942
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)F Fresh area.

日付: 1985. 11. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14943. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 27.

 アイテム
資料番号: O-14943
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)G Fresh area.

日付: 1985. 11. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14944. Ni, MK-31, ED., 1985. 11. 27.

 アイテム
資料番号: O-14944
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Fresh area.

日付: 1985. 11. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14945. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 27.

 アイテム
資料番号: O-14945
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)F Fresh area.

日付: 1985. 11. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14946. Ni, MK-31, DF., 1985. 11. 27.

 アイテム
資料番号: O-14946
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)G Fresh area.

日付: 1985. 11. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14947. Ni, MK-31, DF, 100K., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14947
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)前回までのCryo-transfer Niを通常フォルダーにのせかえて.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14948. Ni, MK-31, DF, 100K., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14948
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14949. Ni, MK-31, DF, 100K., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14949
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14950. Ni, MK-31, ED., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14950
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14951. Ni, MK-31, BF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14951
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14952. Ni, MK-31, BF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14952
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14953. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14953
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14954. Ni, MK-31, BF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14954
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14955. Ni, MK-31, ED., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14955
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14956. Ni, MK-31, DF, 52K., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14956
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14957. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14957
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14958. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14958
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14959. Ni, MK-31, ED., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14959
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14960. Ni, MK-31, DF, 52K., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14960
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14961. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14961
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14962. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14962
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14963. Ni, MK-31, ED., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14963
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14964. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14964
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14965. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14965
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)約5分間　のうち　C.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14966. Ni, MK-31, DF, 52K., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14966
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)前回までのcryotransfer Ni を加熱ステージ　A RT.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14967. Ni, MK-31, DF, 52K., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14967
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14968. Ni, MK-31, ED., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14968
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ミス.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14969. Ni, MK-31, ED., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14969
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ミス.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14970. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14970
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)1.53ｍV、100℃、45min　A.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14971. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14971
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14972. Ni, MK-31, ED., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14972
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14973. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14973
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)2.3mV、150℃、30min　A.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14974. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14974
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14975. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14975
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14976. Ni, MK-31, BF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14976
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14977. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14977
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)3.15ｍV、200℃、20min　A.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14978. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14978
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14979. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14979
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　55min フイルム不足のため1枚のみ.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14980. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14980
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)4.0ｍV,250℃　A.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14981. Ni, MK-31, DF., [1985年11月27日.]

 アイテム
資料番号: O-14981
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-31. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1985年11月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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