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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15082. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15082
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15083. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15083
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15084. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15084
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15085. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., 1985. 11. 29.

 アイテム
資料番号: O-15085
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)前回の続き. 日付元記載「1985. 11. 29.」.

日付: 1985. 11. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15086. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., 1985. 11. 29.

 アイテム
資料番号: O-15086
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1985. 11. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15087. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., 1985. 11. 29.

 アイテム
資料番号: O-15087
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1985. 11. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15088. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., 1985. 11. 29.

 アイテム
資料番号: O-15088
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1985. 11. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15089. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., 1985. 11. 29.

 アイテム
資料番号: O-15089
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1985. 11. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15090. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., 1985. 11. 29.

 アイテム
資料番号: O-15090
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1985. 11. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15091. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., 1985. 11. 29.

 アイテム
資料番号: O-15091
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1985. 11. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15092. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, ED., 1985. 11. 29.

 アイテム
資料番号: O-15092
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 11. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15093. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., 1985. 11. 29.

 アイテム
資料番号: O-15093
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1985. 11. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15094. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF, 100K., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15094
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15095. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15095
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15096. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15096
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15097. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15097
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15098. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15098
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15099. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15099
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15100. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15100
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　　α　∔2.7、7（100）黒.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15101. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15101
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　α.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15102. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15102
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　　α.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15103. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15103
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　　α.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15104. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15104
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　α.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15105. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15105
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15106. Ni, A32, RTNS-II, 200℃., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15106
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃.

(備考)ミス.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15107. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15107
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A β ＋8.2、16（140）黒.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15108. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15108
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　 β　.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15109. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15109
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　 　β.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15110. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15110
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　　β　.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15111. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15111
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　 β　.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15112. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15112
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　 　β.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15113. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15113
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　　β　.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15114. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15114
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　 β　.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15115. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15115
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A just.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15116. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15116
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A over 3 step.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15117. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15117
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A under 3 step.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15118. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15118
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15119. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15119
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B just.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15120. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15120
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B over 3.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15121. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15121
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B under 3.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15122. Ni, A32, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15122
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A32. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15123. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, DF, 100K., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15123
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)A.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15124. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15124
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15125. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15125
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15126. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15127. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15127
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15128. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, ED., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15129. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15130. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15131. Ni, A24, RTNS-II, 200℃, DF., [1985年11月29日.]

 アイテム
資料番号: O-15131
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A24. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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