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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-16981. Au, G514, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年1月17日.]

 アイテム
資料番号: O-16981
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G514. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-16982. Au, G514, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年1月17日.]

 アイテム
資料番号: O-16982
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G514. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-16983. Au, G514, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年1月17日.]

 アイテム
資料番号: O-16983
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G514. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-16984. Au, G514, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年1月17日.]

 アイテム
資料番号: O-16984
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G514. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-16985. Au, G514, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年1月17日.]

 アイテム
資料番号: O-16985
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G514. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-16986. Au, G514, RTNS-II, 150℃, WW, DF., [1986年1月17日.]

 アイテム
資料番号: O-16986
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G514. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)just.

日付: [1986年1月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-16987. Au, G514, RTNS-II, 150℃, WW, DF., [1986年1月17日.]

 アイテム
資料番号: O-16987
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G514. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)→ 細1.

日付: [1986年1月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-16988. Au, G514, RTNS-II, 150℃, WW, DF., [1986年1月17日.]

 アイテム
資料番号: O-16988
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G514. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)←　細1.

日付: [1986年1月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-16989. Au, G514, RTNS-II, 150℃, WW, BF., [1986年1月17日.]

 アイテム
資料番号: O-16989
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G514. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年1月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-16990. Au, G514, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1986年1月17日.]

 アイテム
資料番号: O-16990
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G514. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-16991. Au, G514, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年1月17日.]

 アイテム
資料番号: O-16991
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G514. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-16992. Au, G514, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年1月17日.]

 アイテム
資料番号: O-16992
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G514. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-16993. Au, G514, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年1月17日.]

 アイテム
資料番号: O-16993
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G514. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-16994. Au, G514, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年1月17日.]

 アイテム
資料番号: O-16994
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G514. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-16995. Au, G514, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年1月17日.]

 アイテム
資料番号: O-16995
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G514. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-16996. Au, G514, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年1月17日.]

 アイテム
資料番号: O-16996
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G514. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17108. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF, 100K., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17108
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「1986. 1. 29.(日)」.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17109. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF, 100K., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17109
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17110. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, ED., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17110
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17111. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17111
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17112. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17112
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17113. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17113
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17114. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17114
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17115. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17115
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17116. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17116
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17117. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, ED., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17117
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ミス.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17118. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, ED., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17118
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17119. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF, 530K., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17119
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)530K.

(備考)just.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17120. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, BF, 260K., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17120
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)260K.

(備考)just.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17121. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF, 260K., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17121
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)260K.

(備考)over.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17122. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF, 260K., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17122
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)260K.

(備考)under.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17123. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, BF, 260K., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17123
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)260K.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17124. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, BF, 260K., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17124
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)260K. (反射ベクトルg)以上 100.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17125. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17125
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)near 110. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17126. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17127. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, ED., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17127
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17128. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17129. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17130. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, DF., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17131. Ni, A007, RTNS-II, 60℃, S, ED., 1986. 1. 29. (日).

 アイテム
資料番号: O-17131
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A007. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 1. 29. (日).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17133. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17133
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17134. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17134
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17135. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17135
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17136. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17136
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17137. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17137
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17138. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17138
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17139. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17139
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17140. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17140
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17141. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17141
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17142. Ni, A002, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17142
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A002. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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