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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17193. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17193
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17194. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17194
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17195. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17195
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17196. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17196
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17197. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17197
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)X.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17198. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17198
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17199. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17199
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17200. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17200
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17201. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17201
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17202. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17202
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17203. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17203
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17204. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17204
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17205. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17205
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17206. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17206
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17207. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17207
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17208. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17208
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17209. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17209
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17210. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17210
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17211. Ni, A004, RTNS-II, 150℃, W., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17211
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A004. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17212. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17212
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17213. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17213
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17214. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17214
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17215. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17215
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17216. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17216
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17217. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17217
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17218. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17218
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17219. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17219
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17220. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17220
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17221. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17221
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17222. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17222
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17223. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17223
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17224. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17224
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17225. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17225
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17226. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17226
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17227. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW, 80K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17227
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17228. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW, 80K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17228
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)80K.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17229. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW, 80K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17229
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)80K.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17230. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW, 80K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17230
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)80K.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17231. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW, 80K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17231
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17232. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW, 100K., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17232
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17233. Au, G005, RTNS-II, 60℃, WW, ED., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17233
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G005. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17234. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17234
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

(備考)TW.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17235. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17235
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17236. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17236
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17237. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17237
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17238. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17238
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17239. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17239
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17240. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17240
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17241. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17241
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-17242. Au, G501, RTNS-II, 60℃, S., [1986年1月29日.]

 アイテム
資料番号: O-17242
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)S.

日付: [1986年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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