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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19127. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF., 1986. 2. 12.

 アイテム
資料番号: O-19127
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B 2 step under.

日付: 1986. 2. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19128. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, ED, 100K., 1986. 2. 12.

 アイテム
資料番号: O-19128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1986. 2. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19129. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19130. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)just near grain　α　-29、26（80）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19131. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19131
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)over 2 step　　　α　-29、26（80）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19132. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19132
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)under 2 step　 　α　-29、26（80）赤　.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19133. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19133
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ミス α　-29、26（80）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19134. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19134
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考) α　-29、26（80）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19135. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19135
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考) α　-29、26（80）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19136. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19136
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考) α　-29、26（80）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19137. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19137
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考) α　-29、26（80）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19138. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19138
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19139. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19139
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19140. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19140
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19141. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19141
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19142. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19142
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19143. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19143
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)あまりe-していない所.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19144. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19144
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19145. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19145
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)以下200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19146. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19146
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19147. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19147
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19148. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19148
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19149. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19149
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)かなりe-しているところ.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19150. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19150
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α2　21.5、30.0（140）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19151. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19151
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α2.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19152. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19152
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α2.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19153. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19153
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α2.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19154. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19154
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β2　13.2、2.4（140）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19155. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19155
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β2.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19156. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19156
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β2　just.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19157. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19157
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β2 2 step over.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19158. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19158
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β2 2 step under.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19159. Ni, A012, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19159
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β2.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19160. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19160
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　3.5、 10(160)赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19161. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19161
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19162. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19162
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19163. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19163
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19164. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19164
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19165. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19165
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19166. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19166
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19167. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19167
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　＋4.5、22（220）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19168. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19168
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19169. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19169
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19170. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19170
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19171. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19171
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19172. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19172
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19173. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19173
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19174. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, DF, 11K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19174
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19175. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, BF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19175
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)タケノコ.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19176. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19176
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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