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桐谷, 道雄, 1932-2003

 個人

関係者用

13101 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19178. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19178
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A α　-6.0、1.0（160）赤.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19179. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19179
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19180. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19180
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19181. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19181
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19182. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19182
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19183. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19183
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B α.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19184. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 52K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19184
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A β　　-14.5、2（280）黒.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19185. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19185
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19186. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF, 100K., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19186
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B β.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19187. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19187
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)以後111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B just.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19188. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19188
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B over 2s.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19189. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19189
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B under 2s.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19190. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19190
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)ｓ＞0.

(備考)fresh area -42、20黒.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19191. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19191
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19192. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, DF., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19192
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)fresh area.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19193. Ni, A011, RTNS-II, 90℃, SS, ED., [1986年2月12日.]

 アイテム
資料番号: O-19193
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A011. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年2月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19260. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19260
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A. 日付元記載「2. 13」.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19261. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19261
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19262. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19262
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19263. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19263
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19264. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19264
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19265. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19265
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A fringe.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19266. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19266
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D fringe.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19267. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19267
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19268. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19268
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19269. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19269
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19270. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19270
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19271. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19271
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19272. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19272
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19273. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19273
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ボツ.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19274. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19274
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)以上200反射. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19275. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19275
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)以下111反射.

(備考)D just.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19276. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19276
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D　fine　大　＋2 over.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19277. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19277
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D　fine　大　-2 under.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19278. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, ED, 57., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19278
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57.

(備考)D.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19279. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19279
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C just.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19280. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19280
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C fine 大　＋2 over.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19281. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19281
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C fine 大　-2 under.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19282. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19282
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D just.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19283. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19283
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D fine 大　＋2 over.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19284. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19284
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D fine 大　-2 under.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19285. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19285
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C just.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19286. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19286
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C fine 大　＋3 over.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19287. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19287
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C fine 大　-3 under.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19288. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19288
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19289. SUS, J012, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., [1986年] 2. 13.

 アイテム
資料番号: O-19289
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

(備考)D.

日付: [1986年] 2. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19290. SUS, J018, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1986年2月13日.]

 アイテム
資料番号: O-19290
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)始.

日付: [1986年2月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19291. SUS, J018, RTNS-II, 290℃, M, DF, 52K., [1986年2月13日.]

 アイテム
資料番号: O-19291
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)始.

日付: [1986年2月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19292. SUS, J018, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1986年2月13日.]

 アイテム
資料番号: O-19292
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年2月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-19293. SUS, J018, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1986年2月13日.]

 アイテム
資料番号: O-19293
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)J018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)just.

日付: [1986年2月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 13090
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 12427
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 12283
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 9902
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
ニッケル 3302
金 2647
銅合金 1996
銅 1534
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 806
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 356
ニッケル合金 327
ステンレス鋼 322
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 291
銀 244
鉄 227
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 163
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 161
ゲルマニウム 85
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 57
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 36
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 33
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 33
バナジウム 19
モリブデン 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 18
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 17
ノート 12
材料試験 12
記録ノート Notebooks 12
電子顕微鏡 12
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 11
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 11
Collection 1
アルミニウム 1
アルミニウム合金 1
ムライト 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
炭化珪素 1
珪素 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1
鉄合金 1

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