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件名：ソース: Ku Peek

6400 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6376. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6376
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6377. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6377
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6378. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6378
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6379. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6379
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6380. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6380
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6381. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6381
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6382. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6382
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6383. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6383
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6384. Au, J786松井, RTNS-II, 20K-->300K, W, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6384
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J786松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6385. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 80K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6385
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6386. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 80K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6386
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞1.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6387. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 80K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6387
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6388. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6388
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6389. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 80K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6389
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6390. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 80K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6390
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6391. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6391
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6392. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6392
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　　α　　　＋1.3　黒-2（180）.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6393. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6393
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　α.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6394. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6394
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　　α　.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6395. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6395
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6396. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6396
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　　β　　　－5.0　赤＋4　.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6397. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6397
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　β.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6398. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6398
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　　β.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6399. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6399
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6400. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6400
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　　β.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6401. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6401
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　β.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6402. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6402
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　　β.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6403. Au, J785松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6403
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J785松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D　　β.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7371. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7371
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7372. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7372
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7373. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7373
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7374. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7374
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7375. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7375
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7376. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7376
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7377. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7377
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7378. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7378
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7379. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7379
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7380. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7380
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7381. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7381
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7382. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7382
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7383. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7383
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7384. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7384
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7385. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7385
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7386. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7386
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7387. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7387
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7388. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7388
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7389. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7389
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7390. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7390
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7391. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7391
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7392. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7392
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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