ニッケル

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95931. Ni, BF, 100K., [1994年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-95931

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0　（1.4）.

(備考)（100）シリーズ.

日付: [1994年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95932. Ni, BF, 100K., [1994年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-95932

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)100.

(備考)（100）シリーズ.

日付: [1994年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95933. Ni, BF, 100K., [1994年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-95933

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)100.

(備考)（100）シリーズ.

日付: [1994年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95934. Ni, ED., [1994年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-95934

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)100.

(備考)（100）シリーズ.

日付: [1994年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95935. Ni, BF., [1994年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-95935

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)100.

(備考)（100）シリーズ.

日付: [1994年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95936. Ni, ED., [1994年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-95936

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)100.

(備考)（100）シリーズ.

日付: [1994年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95938. Ni, ED., [1994年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-95938

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)120.

日付: [1994年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95941. Ni, 100K., [1994年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-95941

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)100.

(備考)①.

日付: [1994年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96003. Ni, He ion照射2MeV, 20K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96003

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (条件・倍率等)20K.

(備考)日付元記載「9/9」. 実験者元記載「井関」.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96004. Ni, He ion照射2MeV, 50K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96004

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96005. Ni, He ion照射2MeV, 100K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96005

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96006. Ni, He ion照射2MeV, 210K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96006

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (条件・倍率等)210K.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96007. Ni, He ion照射2MeV, BF, 20K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96007

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96008. Ni, He ion照射2MeV, DF, 20K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96008

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96009. Ni, He ion照射2MeV, DF, 30K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96009

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)界面より中が多い.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96010. Ni, He ion照射2MeV, BF, 30K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96010

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96011. Ni, He ion照射2MeV, BF., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96011

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96012. Ni, He ion照射2MeV, DF., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96012

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96013. Ni, He ion照射2MeV, DF, 50K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96013

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96014. Ni, He ion照射2MeV, BF, 50K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96014

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96015. Ni, He ion照射2MeV, DF, 50K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96015

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96016. Ni, He ion照射2MeV, BF, 50K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96016

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96017. Ni, He ion照射2MeV, DF, 30K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96017

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96018. Ni, He ion照射2MeV, BF, 30K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96018

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96019. Ni, He ion照射2MeV, DF, 30K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96019

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)α.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96020. Ni, He ion照射2MeV, BF, 30K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96020

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)α.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96021. Ni, He ion照射2MeV, DF, 50K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96021

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96022. Ni, He ion照射2MeV, BF, 50K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96022

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96023. Ni, He ion照射2MeV, BF, 30K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96023

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)β.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96024. Ni, He ion照射2MeV, DF, 30K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96024

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)β.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96025. Ni, He ion照射2MeV, DF, 50K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96025

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96026. Ni, He ion照射2MeV, BF, 50K., [1994年]9/9.

アイテム

資料番号: L-96026

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1994年]9/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96027. Ni, He ion照射2MeV, BF, 30K., [1994年9月9日.]

アイテム

資料番号: L-96027

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)試料はNo2　厚さ用.

日付: [1994年9月9日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96028. Ni, He ion照射2MeV, BF, 30K., [1994年9月9日.]

アイテム

資料番号: L-96028

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1994年9月9日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96029. Ni, He ion照射2MeV, DF, 30K., [1994年9月9日.]

アイテム

資料番号: L-96029

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)動かす.

日付: [1994年9月9日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96030. Ni, He ion照射2MeV, DF, 50K., [1994年9月9日.]

アイテム

資料番号: L-96030

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1994年9月9日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96031. Ni, He ion照射2MeV, BF, 50K., [1994年9月9日.]

アイテム

資料番号: L-96031

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1994年9月9日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96032. Ni, He ion照射2MeV, BF, 30K., [1994年9月9日.]

アイテム

資料番号: L-96032

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)厚さ.

日付: [1994年9月9日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96033. Ni, He ion照射2MeV, DF, 30K., [1994年9月9日.]

アイテム

資料番号: L-96033

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1994年9月9日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96034. Ni, He ion照射3MeV, BF, 30K., [1994年9月9日.]

アイテム

資料番号: L-96034

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射3MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1994年9月9日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96035. Ni, He ion照射4MeV, DF, 50K., [1994年9月9日.]

アイテム

資料番号: L-96035

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射4MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)ｇが逆かもしれない.

日付: [1994年9月9日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96036. Ni, He ion照射5MeV, BF, 50K., [1994年9月9日.]

アイテム

資料番号: L-96036

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射5MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1994年9月9日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96037. Ni, He ion照射6MeV, BF, 50K., [1994年9月9日.]

アイテム

資料番号: L-96037

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射6MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年9月9日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96038. Ni, He ion照射7MeV, DF, 50K., [1994年9月9日.]

アイテム

資料番号: L-96038

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射7MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年9月9日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96039. Ni, He ion照射8MeV, DF, 50K., [1994年9月9日.]

アイテム

資料番号: L-96039

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射8MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)全体かわっているコンタミか.

日付: [1994年9月9日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96040. Ni, He ion照射9MeV, DF, 50K., [1994年9月9日.]

アイテム

資料番号: L-96040

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射9MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1994年9月9日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96041. Ni, He ion照射10MeV, DF, 50K., [1994年9月9日.]

アイテム

資料番号: L-96041

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射10MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)dotなし40と異なる場所.

日付: [1994年9月9日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96042. Ni, He ion照射11MeV, BF, 30K., [1994年9月9日.]

アイテム

資料番号: L-96042

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射11MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚い.

日付: [1994年9月9日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96043. Ni, He ion照射12MeV, BF, 30K., [1994年9月9日.]

アイテム

資料番号: L-96043

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射12MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1994年9月9日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-96044. Ni, He ion照射13MeV, DF, 30K., [1994年9月9日.]

アイテム

資料番号: L-96044

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射13MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1994年9月9日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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