ニッケル

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97631. Ni, A006, 300℃, ED., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97631

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A006. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97632. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97632

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞0.

(備考)α　-17, 赤6（140）. 日付元記載「11/18」. 実験者元記載「前野」.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97633. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97633

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞0.

(備考)α　.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97634. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97634

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞0.

(備考)α　.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97635. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97635

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞0.

(備考)α　.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97636. Ni, He ion照射, 200℃, BF, 100K., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97636

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)α　.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97637. Ni, He ion照射, 200℃, BF, 100K., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97637

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)α　.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97638. Ni, He ion照射, 200℃, BF, 100K., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97638

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)α　.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97639. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97639

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)β　-10、赤6（50）.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97640. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97640

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97641. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97641

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97642. Ni, He ion照射, 200℃, BF, 100K., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97642

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97643. Ni, He ion照射, 200℃, BF, 100K., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97643

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97644. Ni, He ion照射, 200℃, BF, 100K., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97644

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97645. Ni, He ion照射, 200℃, ED., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97645

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97646. Ni, He ion照射, 200℃, ED., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97646

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97647. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97647

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞0.

(備考)edge.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97648. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97648

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＝1.5.

(備考)奥.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97649. Ni, He ion照射, 200℃, BF, 100K., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97649

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)edge.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97650. Ni, He ion照射, 200℃, BF, 100K., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97650

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＝0.5.

(備考)奥.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97651. Ni, He ion照射, 200℃, DF, 100K., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97651

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＝0.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97654. Ni, He ion照射, 200℃., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97654

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃.

(備考)dummy.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97655. Ni, He ion照射, 200℃., [1994年]11/18.

アイテム

資料番号: L-97655

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射. (照射温度)200℃.

(備考)dummy.

日付: [1994年]11/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97656. Ni, e-irr, DF, 100K., [1994年]11/19 (土).

アイテム

資料番号: L-97656

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0.

(備考)EM　300℃JMTR　after e- irr　α　A　2回目の取り方. 日付元記載「11/19 (土)」. 実験者元記載「小笠原」.

日付: [1994年]11/19 (土).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97657. Ni, e-irr, DF, 100K., [1994年]11/19 (土).

アイテム

資料番号: L-97657

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0.

(備考)α　A　2回目の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97658. Ni, e-irr, DF, 100K., [1994年]11/19 (土).

アイテム

資料番号: L-97658

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0.

(備考)α　B　2回目の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97659. Ni, e-irr, DF, 100K., [1994年]11/19 (土).

アイテム

資料番号: L-97659

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0.

(備考)α　C　2回目の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97660. Ni, e-irr, DF, 100K., [1994年]11/19 (土).

アイテム

資料番号: L-97660

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)α　A　2回目の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97661. Ni, e-irr, DF, 100K., [1994年]11/19 (土).

アイテム

資料番号: L-97661

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)α　B　2回目の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97662. Ni, e-irr, DF, 100K., [1994年]11/19 (土).

アイテム

資料番号: L-97662

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0.

(備考)β　A　2回目の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97663. Ni, e-irr, DF, 100K., [1994年]11/19 (土).

アイテム

資料番号: L-97663

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0.

(備考)β　B　2回目の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97664. Ni, e-irr, DF, 100K., [1994年]11/19 (土).

アイテム

資料番号: L-97664

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0.

(備考)β　C　2回目の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97665. Ni, e-irr, BF, 100K., [1994年]11/19 (土).

アイテム

資料番号: L-97665

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)β　A　最初の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97666. Ni, e-irr, BF, 100K., [1994年]11/19 (土).

アイテム

資料番号: L-97666

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)β　B　最初の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97667. Ni, e-irr, BF, 100K., [1994年]11/19 (土).

アイテム

資料番号: L-97667

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)α　A　最初の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97668. Ni, e-irr, BF, 100K., [1994年]11/19 (土).

アイテム

資料番号: L-97668

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞0.

(備考)α　B　最初の取り方.

日付: [1994年]11/19 (土).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97670. Ni, e-irr, BF, 100K., [1994年]11/19 Sat.

アイテム

資料番号: L-97670

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＝0.

(備考)JMTR300EM A006重畳照射after e- irr　α（-7, R0（100））. 日付元記載「11/19 Sat.」. 実験者元記載「河内」.

日付: [1994年]11/19 Sat.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97671. Ni, e-irr, DF., [1994年]11/19 Sat.

アイテム

資料番号: L-97671

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1994年]11/19 Sat.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97672. Ni, e-irr, BF., [1994年]11/19 Sat.

アイテム

資料番号: L-97672

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β（-8.5、B6(100)).

日付: [1994年]11/19 Sat.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97673. Ni, e-irr, DF., [1994年]11/19 Sat.

アイテム

資料番号: L-97673

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1994年]11/19 Sat.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97674. Ni, e-irr, BF, 100K., [1994年]11/19 Sat.

アイテム

資料番号: L-97674

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＝0.

(備考)α（-12、B0（660）.

日付: [1994年]11/19 Sat.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97675. Ni, e-irr, BF., [1994年]11/19 Sat.

アイテム

資料番号: L-97675

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β（-9、R0(180)).

日付: [1994年]11/19 Sat.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97676. Ni, e-irr, BF, 100K., [1994年]11/19 Sat.

アイテム

資料番号: L-97676

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＝0.

日付: [1994年]11/19 Sat.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97677. Ni, e-irr., [1994年]11/19 Sat.

アイテム

資料番号: L-97677

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr.

日付: [1994年]11/19 Sat.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97678. Ni, e-irr., [1994年]11/19 Sat.

アイテム

資料番号: L-97678

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)e-irr.

日付: [1994年]11/19 Sat.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97828. Ni, e-irr, DF, 100K., [1994年]11/26 (土).

アイテム

資料番号: L-97828

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)D3　JMTR200℃　after　e-irr2回目α. 日付元記載「11/26 (土)」. 実験者元記載「小笠原」.

日付: [1994年]11/26 (土).