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11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101471. Ni, Heイオン照射, 100℃, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101471
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　B35.5℃　B03,180　（110）.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101472. Ni, Heイオン照射, 100℃, 7200sec, BF, 50K., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101472
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101473. Ni, Heイオン照射, 100℃, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101473
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101474. Ni, Heイオン照射, 100℃, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101474
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101475. Ni, Heイオン照射, 100℃, 7200sec, ED., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101475
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　B27.5　B3,80　（110）.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101476. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101476
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101477. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101477
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101478. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, ED., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101478
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)（100）.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101479. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, ED., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101479
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)（110）.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101480. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101480
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101481. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101481
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101482. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101482
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101483. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 50K., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101483
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101484. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101484
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101485. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101485
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)失敗.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101486. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101486
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101487. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101487
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101488. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 50K., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101488
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101489. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101489
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec.

(備考)B27.5　B18.90.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101490. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101490
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)おまけ.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101491. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 50K., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101491
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101492. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 50K., [1995年]3/16.

 アイテム
資料番号: L-101492
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]3/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101543. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101543
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α（28°3°＋300/120）. 日付元記載「3/29 (WED)」. 実験者元記載「前野」.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101544. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101544
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101545. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101545
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101546. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101546
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101547. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101547
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β（35°、3°＋120/120）.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101548. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101548
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101549. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101549
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101550. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101550
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101551. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, ED., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101551
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101552. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101552
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101553. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101553
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)以上　Area　①.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101554. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

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資料番号: L-101554
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)Area②（37.5°、0°＋50/120）. 日付元記載「3/29 (WED)」.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101555. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 500K., [1995年]3/29 (WED).

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資料番号: L-101555
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)500K.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101556. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

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資料番号: L-101556
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101557. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

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資料番号: L-101557
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101558. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, ED., [1995年]3/29 (WED).

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資料番号: L-101558
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101559. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

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資料番号: L-101559
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)（黒37.5、赤0°＋30/120）α1.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101560. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

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資料番号: L-101560
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α1.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101561. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

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資料番号: L-101561
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α1.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101562. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101562
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)（31.5°黒0°＋60/100）.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101563. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

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資料番号: L-101563
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)（31.5°黒0°＋60/100）.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101564. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101564
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)（31.5°黒0°＋60/100）.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101565. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101565
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)（31.5°黒0°＋60/100）.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101566. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101566
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β1（30°黒0°＋50/120）.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101567. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101567
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β1.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101568. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, BF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101568
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β1.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101569. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 50K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101569
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)黒30°黒0°、90/120.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101570. Ni, Heイオン照射, RT, 7200sec, DF, 100K., [1995年]3/29 (WED).

 アイテム
資料番号: L-101570
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)7200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)黒30°黒0°、90/120.

日付: [1995年]3/29 (WED).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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