ニッケル

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102234. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102234

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102235. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102235

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102236. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102236

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥（R39.5°B9＋3x300/360).

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102237. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 50K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102237

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102238. Ni, Heイオン照射, 100nA, ED., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102238

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102239. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102239

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge　R33.5　B9＋3x120/360).

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102240. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102240

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102241. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 50K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102241

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102242. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102242

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102243. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 50K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102243

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102244. Ni, Heイオン照射, 100nA, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102244

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (条件・倍率等)100K.

(備考)別の場所.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102245. Ni, Heイオン照射, 100nA, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102245

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102246. Ni, Heイオン照射, 50nA, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102246

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)50nA. (条件・倍率等)100K.

(備考)B31　B21　3ｘ100/360.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102247. Ni, Heイオン照射, 50nA, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102247

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)50nA. (条件・倍率等)100K.

(備考)B31　B21　3ｘ100/360.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102248. Ni, Heイオン照射, 50nA, 50K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102248

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)50nA. (条件・倍率等)50K.

(備考)B31　B21　3ｘ100/360.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102249. Ni, Heイオン照射, 50nA, ED., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102249

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B31　B21　3ｘ100/360.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102250. Ni, Heイオン照射, 50nA, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102250

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)50nA. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102251. Ni, Heイオン照射, 50nA, 50K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102251

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)50nA. (条件・倍率等)50K.

(備考)B23　B15　3x240/360.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102252. Ni, Heイオン照射, 50nA, ED., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102252

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B23　B15　3x240/360.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102253. Ni, Heイオン照射, 50nA, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102253

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)50nA. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B23　B15　3x240/360.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102254. Ni, Heイオン照射, 50nA, 50K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102254

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)50nA. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B23　B15　3x240/360.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102255. Ni, Heイオン照射, 25nA, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102255

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (条件・倍率等)100K.

(備考)R29　R9　3x240/360.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102256. Ni, Heイオン照射, 25nA, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102256

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (条件・倍率等)100K.

(備考)R29　R9　3x240/360.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102257. Ni, Heイオン照射, 25nA, 50K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102257

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (条件・倍率等)50K.

(備考)R29　R9　3x240/360.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102258. Ni, Heイオン照射, 25nA, ED., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102258

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)（R22、R6　3x20/360).

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102259. Ni, Heイオン照射, 25nA, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102259

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102260. Ni, Heイオン照射, 25nA, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102260

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102261. Ni, Heイオン照射, 25nA, 50K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102261

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102262. Ni, Heイオン照射, 25nA, ED., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102262

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102263. Ni, Heイオン照射, 25nA, 50K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102263

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102264. Ni, Heイオン照射, 25nA, 200K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102264

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (条件・倍率等)200K.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102431. Ni, Heイオン照射, 200nA, BF, 100K., [1995年]6/26.

アイテム

資料番号: L-102431

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ. 日付元記載「6/26」. 実験者元記載「K.M」.

日付: [1995年]6/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102432. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年]6/26.

アイテム

資料番号: L-102432

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]6/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102433. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 50K., [1995年]6/26.

アイテム

資料番号: L-102433

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]6/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102434. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 50K., [1995年]6/26.

アイテム

資料番号: L-102434

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ.

日付: [1995年]6/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102435. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 50K., [1995年]6/26.

アイテム

資料番号: L-102435

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]6/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102436. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 50K., [1995年]6/26.

アイテム

資料番号: L-102436

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102437. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/26.

アイテム

資料番号: L-102437

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]6/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102438. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 50K., [1995年]6/26.

アイテム

資料番号: L-102438

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102439. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/26.

アイテム

資料番号: L-102439

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]6/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102440. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/26.

アイテム

資料番号: L-102440

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]6/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102441. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 50K., [1995年]6/26.

アイテム

資料番号: L-102441

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102442. Ni, Heイオン照射, 200nA., [1995年]6/26.

アイテム

資料番号: L-102442

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA.

(備考)失敗.

日付: [1995年]6/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102575. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

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資料番号: L-102575

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)α　0.0黒1（290）Area　A. 日付元記載「7月15日」. 実験者元記載「松本, 桐谷」 .

日付: [1995年]7月15日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102576. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

アイテム

資料番号: L-102576

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)α　Area　B.

日付: [1995年]7月15日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102577. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

アイテム

資料番号: L-102577

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)α　Area　B.

日付: [1995年]7月15日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102578. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

アイテム

資料番号: L-102578

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)β　-8黒1（80）Area　A.

日付: [1995年]7月15日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102579. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

アイテム

資料番号: L-102579

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)β　Area　B.

日付: [1995年]7月15日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102580. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

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資料番号: L-102580

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)γ　＋5.2赤19（220）Area　C.

日付: [1995年]7月15日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102581. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

アイテム

資料番号: L-102581

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)γ　Area　C.

日付: [1995年]7月15日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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