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11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102582. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

 アイテム
資料番号: L-102582
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)γ　Area　D.

日付: [1995年]7月15日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102583. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

 アイテム
資料番号: L-102583
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)δ　＋8.0赤8（120）Area　C.

日付: [1995年]7月15日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102584. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

 アイテム
資料番号: L-102584
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)δ　Area　D.

日付: [1995年]7月15日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102585. Ni, 15K., [1995年7月15日.]

 アイテム
資料番号: L-102585
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)Area E　忘れたので.

日付: [1995年7月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102586. Ni, 15K., [1995年7月15日.]

 アイテム
資料番号: L-102586
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)α　＋3赤12（20）Area E.

日付: [1995年7月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102589. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, DF, 100K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102589
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α　B5°B24＋150. 実験者元記載「前野」.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102590. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, DF, 100K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102590
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102591. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, DF, 50K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102591
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102592. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, DF, 100K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102592
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　B45°　B15°＋300.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102593. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, DF, 100K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102593
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102594. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, DF, 50K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102594
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102595. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, 100K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102595
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102596. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, 50K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102596
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102597. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, 10K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102597
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102598. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, ED., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102598
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102600. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102600
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)露出over.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102601. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102601
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α1　黒13°赤9°＋320/360ｘ3.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102602. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 50K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102602
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α1　.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102603. Ni, Heイオン照射, 200nA, ED., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102603
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α1　.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102604. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102604
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α2（奥）黒13°赤9°＋280/360ｘ3.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102605. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 150K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102605
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102606. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102606
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β1　黒6.5赤9°＋190/360ｘ3.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102607. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 50K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102607
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β2　黒6.5°赤9°＋190/360ｘ3.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102608. Ni, Heイオン照射, 200nA, ED., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102608
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β2.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102609. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102609
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β2.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102610. Ni, Heイオン照射, 25nA, DF, 100K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102610
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α1　黒15　黒9°＋80/360ｘ3.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102611. Ni, Heイオン照射, 25nA, DF, 50K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102611
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102612. Ni, Heイオン照射, 25nA, ED., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102612
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102613. Ni, Heイオン照射, 25nA, DF, 100K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102613
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102614. Ni, Heイオン照射, 25nA, DF, 100K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102614
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)失敗　β黒10黒3°180/360ｘ3.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102615. Ni, Heイオン照射, 25nA, DF, 100K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102615
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102616. Ni, Heイオン照射, 25nA, DF, 50K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102616
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102617. Ni, Heイオン照射, 25nA, DF, 50K., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102617
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102618. Ni, Heイオン照射, 25nA, ED., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102618
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102619. Ni, Heイオン照射, 25nA, DF., [1995年10月17日.]

 アイテム
資料番号: L-102619
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)おまけ.

日付: [1995年10月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102620. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1995年]7/17.

 アイテム
資料番号: L-102620
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)300nm. 日付元記載「7/17」. 実験者元記載「Iseki」.

日付: [1995年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102621. Ni, Heイオン照射, DF, 50K., [1995年]7/17.

 アイテム
資料番号: L-102621
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102622. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1995年]7/17.

 アイテム
資料番号: L-102622
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102623. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1995年]7/17.

 アイテム
資料番号: L-102623
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102624. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1995年]7/17.

 アイテム
資料番号: L-102624
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102625. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1995年]7/17.

 アイテム
資料番号: L-102625
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102626. Ni, Heイオン照射, DF, 59K., [1995年]7/17.

 アイテム
資料番号: L-102626
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)59K.

日付: [1995年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102627. Ni, Heイオン照射, DF, 59K., [1995年]7/17.

 アイテム
資料番号: L-102627
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)59K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　GB近く.

日付: [1995年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102628. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1995年]7/17.

 アイテム
資料番号: L-102628
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　.

日付: [1995年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102629. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1995年]7/17.

 アイテム
資料番号: L-102629
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　.

日付: [1995年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102630. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1995年]7/17.

 アイテム
資料番号: L-102630
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102631. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1995年]7/17.

 アイテム
資料番号: L-102631
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102632. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1995年]7/17.

 アイテム
資料番号: L-102632
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102633. Ni, Heイオン照射, DF, 50K., [1995年]7/17.

 アイテム
資料番号: L-102633
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102634. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1995年]7/17.

 アイテム
資料番号: L-102634
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]7/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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