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11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103081. Ni, JMTR多分割, 200℃, DF, 100K., [1995年9月9日]

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資料番号: L-103081
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR多分割. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)さらに奥.

日付: [1995年9月9日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103082. Ni, JMTR多分割, 200℃, ED., [1995年9月9日]

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資料番号: L-103082
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR多分割. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年9月9日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103083. Ni, JMTR多分割, 200℃, BF, 100K., [1995年9月9日]

 アイテム
資料番号: L-103083
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR多分割. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)さらに奥.

日付: [1995年9月9日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103084. Ni, JMTR多分割, 200℃, BF, 100K., [1995年9月9日]

 アイテム
資料番号: L-103084
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR多分割. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年9月9日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103085. Ni, JMTR多分割, 200℃, BF, 100K., [1995年9月9日]

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資料番号: L-103085
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR多分割. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年9月9日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103158. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103158
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)R＝7°B15°＋260/360ｘ3. 日付元記載「10/7」.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103159. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103159
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103160. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103160
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103161. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103161
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103162. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103162
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)R＝1.5°＋180/360ｘ3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103163. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103163
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103164. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103164
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103165. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103165
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103166. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103166
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)R1.5　B12＋120/360ｘ3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103167. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103167
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103168. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103168
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bエリア.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103169. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103169
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)Bエリア.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103170. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103170
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103171. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103171
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)R＝27　B180/360ｘ3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103172. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103172
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103173. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103173
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103174. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103174
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103175. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 50K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103175
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)エリアA.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103176. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, DF, 50K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103176
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)エリアB.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103177. Ni, Heイオン照射, RT, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103177
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103178. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103178
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)R 26.5　B3°　40/360ｘ3. 日付元記載「10/7」.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103179. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103179
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103180. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103180
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103181. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103181
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103182. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103182
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103183. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103183
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103184. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103184
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103185. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

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資料番号: L-103185
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103186. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

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資料番号: L-103186
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)R19.5　3°100/360ｘ3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103187. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

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資料番号: L-103187
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103188. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

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資料番号: L-103188
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103189. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

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資料番号: L-103189
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103190. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

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資料番号: L-103190
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103191. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

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資料番号: L-103191
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103192. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

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資料番号: L-103192
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103193. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec., [1995年]10/7.

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資料番号: L-103193
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103194. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 50K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103194
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103195. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 50K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103195
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103196. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103196
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)R11.5　6°120/360ｘ3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103197. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103197
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103198. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103198
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103199. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103199
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103200. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103200
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103201. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103201
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)R3.5　3°20/360ｘ3.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103202. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

 アイテム
資料番号: L-103202
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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