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11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103269. Ni, Heイオン照射, 300℃, 288sec, ED., [1995年10月13日]

 アイテム
資料番号: L-103269
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)288sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103270. Ni, Heイオン照射, 300℃, 289sec, DF, 50K., [1995年10月13日]

 アイテム
資料番号: L-103270
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)289sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年10月13日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103335. Ni, Heイオン照射, 400℃, BF, 50K., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103335
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)（111）　R2　3°＋20/360ｘ3. 日付元記載「10/19」.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103336. Ni, Heイオン照射, 400℃, BF, 50K., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103336
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103337. Ni, Heイオン照射, 400℃, BF, 100K., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103337
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103338. Ni, Heイオン照射, 400℃, BF, 100K., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103338
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103339. Ni, Heイオン照射, 400℃, BF, 100K., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103339
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103340. Ni, Heイオン照射, 400℃, BF, 100K., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103340
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103341. Ni, Heイオン照射, 400℃, BF, 50K., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103341
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103342. Ni, Heイオン照射, 400℃, BF, 50K., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103342
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)R2　B0°＋340/360ｘ3.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103343. Ni, Heイオン照射, 400℃, BF, 100K., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103343
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)（100）.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103344. Ni, Heイオン照射, 400℃, BF, 100K., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103344
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103345. Ni, Heイオン照射, 400℃, BF, 50K., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103345
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103346. Ni, Heイオン照射, 400℃, BF, 50K., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103346
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103347. Ni, Heイオン照射, 400℃, ED., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103347
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)200.

(備考)（100）.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103348. Ni, Heイオン照射, 400℃, ED., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103348
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)220.

(備考)（100）.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103349. Ni, Heイオン照射, 400℃, 0.1K., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103349
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)0.1K.

(備考)map指示あり.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103350. Ni, Heイオン照射, 400℃, 0.1K., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103350
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)0.1K.

(備考)map　1.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103351. Ni, Heイオン照射, 400℃, 0.1K., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103351
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)0.1K.

(備考)map　2.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103352. Ni, Heイオン照射, 400℃, 0.1K., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103352
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)0.1K.

(備考)map　3.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103353. Ni, Heイオン照射, 400℃, 0.1K., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103353
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)0.1K.

(備考)map　4.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103354. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100K., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103354
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

(備考)（100）.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103355. Ni, Heイオン照射, 400℃., [1995年]10/19.

 アイテム
資料番号: L-103355
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃.

日付: [1995年]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103442. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103442
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)He＋→（110）　see→（110）R45　R3°＋240/360ｘ3　edge. 日付元記載「10/25」. 実験者元記載「前野 克弘」.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103443. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103443
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)奥.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103444. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103444
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103445. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103445
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103446. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103446
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103447. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103447
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103448. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, BF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103448
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103449. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, BF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103449
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)奥　.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103450. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103450
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103451. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103451
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)奥　R8.5　B0°＋60/360ｘ3.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103452. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103452
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103453. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, BF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103453
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)奥.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103454. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

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資料番号: L-103454
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103455. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

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資料番号: L-103455
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103456. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, ED., [1995年]10/25.

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資料番号: L-103456
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103457. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 50K., [1995年]10/25.

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資料番号: L-103457
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)失敗.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103458. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 50K., [1995年]10/25.

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資料番号: L-103458
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103459. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 50K., [1995年]10/25.

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資料番号: L-103459
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)少し下の方.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103460. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF, 100K., [1995年]10/25.

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資料番号: L-103460
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B27°B9°200/360ｘ3.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103461. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103461
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103462. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, BF., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103462
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103463. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103463
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103464. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103464
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B23　B6°160/360ｘ3.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103465. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103465
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103466. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, BF., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103466
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103467. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103467
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103468. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, ED., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103468
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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