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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103469. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF, 50K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103469
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103470. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF, 59K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103470
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)59K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103471. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF, 100K., [1995年]10/25.

 アイテム
資料番号: L-103471
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103472. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF, 100K., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103472
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)edge　A　場所　α　18°R6°＋200/360ｘ3.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103473. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF, 100K., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103473
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)B　　　　場所　α.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103474. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF, 100K., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103474
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)B　α.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103475. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, BF, 100K., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103475
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)B　α.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103476. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103476
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)B　α.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103477. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103477
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)C　α.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103478. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103478
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)C　α.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103479. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, BF., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103479
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B　β.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103480. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103480
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　β.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103481. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, BF., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103481
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B　β.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103482. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, BF., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103482
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B　β.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103483. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103483
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103484. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103484
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103485. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, ED., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103485
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103486. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF, 50K., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103486
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103487. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF., [1995年10月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103487
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995年10月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103718. Ni, T208, JMTR多分割, 300℃., [1995年11月9日.]

 アイテム
資料番号: L-103718
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)T208. (照射条件)JMTR多分割. (照射温度)300℃.

(備考)94M15U.

日付: [1995年11月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103719. Ni, T208, JMTR多分割, 300℃., [1995年11月9日.]

 アイテム
資料番号: L-103719
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)T208. (照射条件)JMTR多分割. (照射温度)300℃.

日付: [1995年11月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103720. Ni, T208, JMTR多分割, 300℃., [1995年11月9日.]

 アイテム
資料番号: L-103720
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)T208. (照射条件)JMTR多分割. (照射温度)300℃.

(備考)同じ.

日付: [1995年11月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103721. Ni, T208, JMTR多分割, 300℃., [1995年11月9日.]

 アイテム
資料番号: L-103721
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)T208. (照射条件)JMTR多分割. (照射温度)300℃.

(備考)同じ.

日付: [1995年11月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103722. Ni, T208, JMTR多分割, 300℃., [1995年11月9日.]

 アイテム
資料番号: L-103722
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)T208. (照射条件)JMTR多分割. (照射温度)300℃.

(備考)Void.

日付: [1995年11月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103723. Ni, T208, JMTR多分割, 300℃., [1995年11月9日.]

 アイテム
資料番号: L-103723
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)T208. (照射条件)JMTR多分割. (照射温度)300℃.

(備考)Void.

日付: [1995年11月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103724. Ni, T209, JMTR多分割, 300℃., [1995年11月9日.]

 アイテム
資料番号: L-103724
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)T209. (照射条件)JMTR多分割. (照射温度)300℃.

(備考)94M15U.

日付: [1995年11月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103725. Ni, T209, JMTR多分割, 300℃., [1995年11月9日.]

 アイテム
資料番号: L-103725
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)T209. (照射条件)JMTR多分割. (照射温度)300℃.

日付: [1995年11月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103726. Ni, T209, JMTR多分割, 300℃., [1995年11月9日.]

 アイテム
資料番号: L-103726
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)T209. (照射条件)JMTR多分割. (照射温度)300℃.

日付: [1995年11月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103727. Ni, T209, JMTR多分割, 300℃., [1995年11月9日.]

 アイテム
資料番号: L-103727
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)T209. (照射条件)JMTR多分割. (照射温度)300℃.

日付: [1995年11月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103728. Ni, T209, JMTR多分割, 300℃., [1995年11月9日.]

 アイテム
資料番号: L-103728
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)T209. (照射条件)JMTR多分割. (照射温度)300℃.

日付: [1995年11月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103729. Ni, T209, JMTR多分割, 300℃., [1995年11月9日.]

 アイテム
資料番号: L-103729
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)T209. (照射条件)JMTR多分割. (照射温度)300℃.

日付: [1995年11月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103807. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103807
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)AαR27　R21　220/360ｘ3　edge. 日付元記載「11/18」.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103808. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103808
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aα　そのおく.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103809. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, BF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103809
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aα　edge.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103810. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, BF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103810
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aα　そのおく.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103811. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103811
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bα　edge.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103812. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103812
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bα　おく.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103813. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, BF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103813
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bα　edge.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103814. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103814
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bα　おく.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103815. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103815
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bβ　R22　R21.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103816. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103816
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103817. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103817
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103818. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103818
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103819. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103819
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103820. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103820
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103821. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, BF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103821
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103822. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103822
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103823. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, ED., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103823
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103824. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 50K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103824
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103825. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 50K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103825
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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