メインコンテンツへスキップ

ニッケル

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14081. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14081
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14082. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14082
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14083. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14083
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14084. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 10K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14084
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)Boundary.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14085. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 10K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14085
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)Boundary.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14086. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 10K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14086
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14087. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14087
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)90までBoundaryから離れる.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14088. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14088
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14089. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14089
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14090. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14090
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14091. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14091
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14092. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 10K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14092
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14093. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14093
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14094. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, BF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14094
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)D部.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14095. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, BF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14095
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14096. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, BF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14096
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14097. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, BF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14097
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14098. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, BF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14098
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14099. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, BF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14099
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14100. Ni, Ae903, RTNS-II, 350℃, BF, 50K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14100
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Ae903. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14153. Ni, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14153
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)始点.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14154. Ni, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14154
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14155. Ni, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14155
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14156. Ni, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14156
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14157. Ni, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14157
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14158. Ni, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14158
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14159. Ni, RTNS-II, 200℃, M, ED., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14159
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)終点.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14160. Ni, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14160
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)始点.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14161. Ni, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14161
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)終点.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14164. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14164
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)focus,stigmaの合わせが速く出来るよう.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14165. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14165
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)になったので、ゴミがあまりつかない。.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14166. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14166
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)64から72にかけて三つはずし。.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14167. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14167
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)ゆるやかにdiff.変化.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14168. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14168
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)64から72にかけてだんだん良くなる。.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14169. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14169
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14170. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14170
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14171. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14171
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14172. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14172
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14173. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14173
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)二つはずし。.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14174. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14174
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14175. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14175
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)始点.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14176. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14176
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)中点.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14177. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14177
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)終点.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14178. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14178
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)78～90にかけて二つ外し　別grain.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14179. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14179
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14180. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14180
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14181. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14181
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14182. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14182
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14183. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14183
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14184. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14184
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ