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11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103826. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103826
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B12°　R9°　220/360ｘ3　A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103827. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103827
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103828. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103828
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103829. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103829
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103830. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103830
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103831. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103831
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103832. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103832
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103833. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103833
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103834. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103834
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103835. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103835
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103836. Ni, Heイオン照射, 200℃, ED., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103836
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103837. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103837
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B8.5　R12°　B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103838. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103838
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103839. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103839
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103840. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103840
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103841. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103841
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103842. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103842
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103843. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103843
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103844. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103844
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103845. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103845
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103846. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103846
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103847. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103847
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)穴B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103848. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103848
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103924. Ni, Heイオン照射, RT, 700s, DF, 100K., [1995年11月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103924
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)R25.5°B6°＋170/360ｘ3　edge　A. 実験者元記載「前野」.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103925. Ni, Heイオン照射, RT, 700s, DF., [1995年11月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103925
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)おく　B.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103926. Ni, Heイオン照射, RT, 700s, DF., [1995年11月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103926
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)edge　B？.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103927. Ni, Heイオン照射, RT, 700s, DF., [1995年11月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103927
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)edge　B.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103928. Ni, Heイオン照射, RT, 700s, DF., [1995年11月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103928
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)edge　C.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103929. Ni, Heイオン照射, RT, 700s, DF., [1995年11月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103929
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)edge　C.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103930. Ni, Heイオン照射, RT, 700s, DF., [1995年11月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103930
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)おく　B.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103931. Ni, Heイオン照射, RT, 700s, ED., [1995年11月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103931
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103932. Ni, Heイオン照射, RT, 700s, DF., [1995年11月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103932
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)19.5　3°300/360ｘ3.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103933. Ni, Heイオン照射, RT, 700s, DF., [1995年11月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103933
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103934. Ni, Heイオン照射, RT, 700s, DF, 50K., [1995年11月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103934
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103935. Ni, Heイオン照射, RT, 700s, DF., [1995年11月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103935
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103936. Ni, Heイオン照射, RT, 700s, DF., [1995年11月25日.]

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資料番号: L-103936
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103937. Ni, Heイオン照射, RT, 700s, ED., [1995年11月25日.]

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資料番号: L-103937
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)RT. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103938. Ni, Heイオン照射, 100℃, 84s, DF., [1995年11月25日.]

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資料番号: L-103938
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)84s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)R21.5　R　0°300/360ｘ3.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103939. Ni, Heイオン照射, 100℃, 84s, DF., [1995年11月25日.]

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資料番号: L-103939
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)84s. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103940. Ni, Heイオン照射, 100℃, 84s., [1995年11月25日.]

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資料番号: L-103940
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)84s.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103941. Ni, Heイオン照射, 100℃, 84s, DF, 100K., [1995年11月25日.]

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資料番号: L-103941
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)84s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103942. Ni, Heイオン照射, 100℃, 84s, DF, 100K., [1995年11月25日.]

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資料番号: L-103942
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)84s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)R14.5　R3　160/360ｘ3.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103943. Ni, Heイオン照射, 100℃, 84s, DF, 100K., [1995年11月25日.]

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資料番号: L-103943
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)84s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103944. Ni, Heイオン照射, 100℃, 84s, DF, 100K., [1995年11月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103944
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)84s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103945. Ni, Heイオン照射, 100℃, 84s, DF, 50K., [1995年11月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103945
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)84s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)（B).

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103946. Ni, Heイオン照射, 100℃, 84s., [1995年11月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103946
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)84s.

(備考)----.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103947. Ni, Heイオン照射, 100℃, 84s, ED., [1995年11月25日.]

 アイテム
資料番号: L-103947
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)84s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年11月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104040. Ni, Heイオン照射, 200℃, 840s, DF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104040
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge　B27°6°260/360ｘ3　A. 実験者元記載「前野」.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104041. Ni, Heイオン照射, 200℃, 840s, DF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104041
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104042. Ni, Heイオン照射, 200℃, 840s, DF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104042
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α　B.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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