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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104043. Ni, Heイオン照射, 200℃, 840s, DF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104043
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　B.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104044. Ni, Heイオン照射, 200℃, 840s, DF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104044
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)α　B.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104045. Ni, Heイオン照射, 200℃, 840s, DF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104045
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　B.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104046. Ni, Heイオン照射, 200℃, 840s, BF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104046
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　B.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104047. Ni, Heイオン照射, 200℃, 840s, BF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104047
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　B.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104048. Ni, Heイオン照射, 200℃, 840s, ED., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104048
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104049. Ni, Heイオン照射, 200℃, 840s, DF, 50K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104049
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104050. Ni, Heイオン照射, 200℃, 840s, DF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104050
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104051. Ni, Heイオン照射, 200℃, 840s, DF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104051
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104052. Ni, Heイオン照射, 200℃, 840s, DF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104052
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　22°13°310/360ｘ3.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104053. Ni, Heイオン照射, 200℃, 840s, DF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104053
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104054. Ni, Heイオン照射, 200℃, 840s, DF, 50K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104054
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104055. Ni, Heイオン照射, 200℃, 840s, ED., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104055
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104056. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, DF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104056
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)edge　A　R40　B9°150/360x3.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104057. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, DF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104057
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)↓　A.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104058. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, DF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104058
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)↓　A.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104059. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, DF, 50K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104059
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↓　A.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104060. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, DF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104060
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)↓　A.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104061. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, DF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104061
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　B4°　B21°＋110/360x3.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104062. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, DF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104062
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104063. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104063
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　C.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104064. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104064
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104065. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, BF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104065
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104066. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, BF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104066
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104067. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, DF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104067
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　B2°　B12°＋100/360x3　B.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104068. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, DF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104068
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　B.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104069. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, DF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104069
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　D.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104070. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, DF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104070
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　D.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104071. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, 50K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104071
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D　C.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104072. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, 37K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104072
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B用.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104073. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, ED., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104073
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104074. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, DF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104074
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α　R18.5　B12＋140/360x3.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104075. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, DF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104075
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104076. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, DF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104076
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104077. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104077
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　edge.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104078. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104078
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　edge.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104079. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104079
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　edge.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104080. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104080
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α　おくの変なもの.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104081. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, DF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104081
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　R13　B12　20/360x3.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104082. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, DF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104082
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104083. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104083
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104084. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104084
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104085. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104085
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104086. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104086
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104087. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF, 50K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104087
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↓edge　.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104088. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF, 50K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104088
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104089. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, ED., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104089
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104146. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104146
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge　33.5　R12°20/360x3. 日付元記載「12/2」.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104147. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104147
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104148. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

 アイテム
資料番号: L-104148
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)おく.

日付: [1995年]12/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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