ニッケル

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104149. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104149

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)edge.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104150. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 50K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104150

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104151. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104151

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge　逆サイド.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104152. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104152

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)おく.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104153. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 50K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104153

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)edge　B36°　036/360x3.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104154. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 50K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104154

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)おく.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104155. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104155

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104156. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104156

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104157. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104157

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bおく　B29°　3°100/360x3.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104158. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104158

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aおく.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104159. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104159

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104160. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104160

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104161. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, 100K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104161

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104162. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, 100K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104162

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104163. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, BF, 100K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104163

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104164. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, BF, 100K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104164

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104165. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, BF, 100K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104165

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104166. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104166

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104167. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, BF, 50K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104167

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)α　同じ場所　B16B6＋160/360x3.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104168. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, BF, 50K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104168

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　同じ場所.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104169. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, BF, 50K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104169

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　同じ場所.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104170. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104170

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104171. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104171

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104172. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 100K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104172

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104173. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, BF, 50K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104173

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　B19.5　B16　180/360x3　.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104174. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 50K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104174

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104175. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, BF, 50K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104175

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104176. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 50K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104176

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104177. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, BF, 50K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104177

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104178. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 50K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104178

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104179. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, ED., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104179

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104180. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 37K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104180

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104181. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, DF, 37K., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104181

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104182. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s, ？., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104182

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s. (Dark, Bright, ED)？.

(備考)β.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104183. Ni, Heイオン照射, 200℃　RT, 84s　840s., [1995年]12/2.

アイテム

資料番号: L-104183

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃　RT. (照射量)84s　840s.

(備考)X.

日付: [1995年]12/2.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104200. Ni, ED., [1995年]12/3.

アイテム

資料番号: L-104200

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)defromation（100）pole　①. 日付元記載「12/3」. 実験者元記載「Y. Ogasawara」.

日付: [1995年]12/3.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104201. Ni, ED., [1995年]12/3.

アイテム

資料番号: L-104201

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)100）pole　①.

日付: [1995年]12/3.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104202. Ni, ED., [1995年]12/3.

アイテム

資料番号: L-104202

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)少し傾ける　②.

日付: [1995年]12/3.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104203. Ni, ED., [1995年]12/3.

アイテム

資料番号: L-104203

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)①と②の間.

日付: [1995年]12/3.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104204. Ni, DF, 100K., [1995年]12/3.

アイテム

資料番号: L-104204

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]12/3.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104205. Ni, DF, 100K., [1995年]12/3.

アイテム

資料番号: L-104205

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]12/3.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104206. Ni, DF, 100K., [1995年]12/3.

アイテム

資料番号: L-104206

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)different　area.

日付: [1995年]12/3.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104207. Ni, DF, 100K., [1995年]12/3.

アイテム

資料番号: L-104207

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)different　area.

日付: [1995年]12/3.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104208. Ni, ED., [1995年]12/4.

アイテム

資料番号: L-104208

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)（100）pole. 日付元記載「12/4」.

日付: [1995年]12/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104212. Ni, ED., [1995年]12/4.

アイテム

資料番号: L-104212

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)（100）pole　同一視野.

日付: [1995年]12/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104213. Ni, DF, 100K., [1995年]12/4.

アイテム

資料番号: L-104213

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)同一視野.

日付: [1995年]12/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104214. Ni, DF, 100K., [1995年]12/4.

アイテム

資料番号: L-104214

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)同一視野.

日付: [1995年]12/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104278. Ni, JMTR, 573K, BF, 50K., [1995年]12/12.

アイテム

資料番号: L-104278

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)573K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)日付元記載「12/12」. 実験者元記載「Y. Ogasawara」.

日付: [1995年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104279. Ni, JMTR, 573K, BF, 50K., [1995年]12/12.

アイテム

資料番号: L-104279

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)573K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104280. Ni, JMTR, 573K., [1995年]12/12.

アイテム

資料番号: L-104280

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)573K.

(備考)disl.

日付: [1995年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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