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11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104496. Ni, H04, LASREF, RT, ⑦シリーズ, DF, 100K., [1995年]12/24.

 アイテム
資料番号: L-104496
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)H04. (照射条件)LASREF. (照射温度)RT. (照射量)⑦シリーズ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]12/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104497. Ni, H04, LASREF, RT, ⑦シリーズ, DF, 100K., [1995年]12/24.

 アイテム
資料番号: L-104497
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)H04. (照射条件)LASREF. (照射温度)RT. (照射量)⑦シリーズ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]12/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104498. Ni, H04, LASREF, RT, ⑦シリーズ, BF, 100K., [1995年]12/24.

 アイテム
資料番号: L-104498
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)H04. (照射条件)LASREF. (照射温度)RT. (照射量)⑦シリーズ. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]12/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104499. Ni, H04, LASREF, RT, ⑦シリーズ, BF, 50K., [1995年]12/24.

 アイテム
資料番号: L-104499
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)H04. (照射条件)LASREF. (照射温度)RT. (照射量)⑦シリーズ. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]12/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104500. Ni, H04, LASREF, RT, ⑦シリーズ, DF, 50K., [1995年]12/24.

 アイテム
資料番号: L-104500
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)H04. (照射条件)LASREF. (照射温度)RT. (照射量)⑦シリーズ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]12/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104501. Ni, H04, LASREF, RT, ⑦シリーズ, BF, 50K., [1995年]12/24.

 アイテム
資料番号: L-104501
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)H04. (照射条件)LASREF. (照射温度)RT. (照射量)⑦シリーズ. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]12/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104716. Ni, Heイオン照射, 300℃, 84s, DF, 100K., [19]'96 1/12.

 アイテム
資料番号: L-104716
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)84s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)日付元記載「'96 1/12」. 実験者元記載「前野」.

日付: [19]'96 1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104717. Ni, Heイオン照射, 300℃, 84s, DF, 100K., [19]'96 1/12.

 アイテム
資料番号: L-104717
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)84s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'96 1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104718. Ni, Heイオン照射, 300℃, 84s, DF, 100K., [19]'96 1/12.

 アイテム
資料番号: L-104718
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)84s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'96 1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104719. Ni, Heイオン照射, 300℃, 84s, DF, 100K., [19]'96 1/12.

 アイテム
資料番号: L-104719
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)84s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'96 1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104720. Ni, Heイオン照射, 300℃, 84s, DF, 100K., [19]'96 1/12.

 アイテム
資料番号: L-104720
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)84s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'96 1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104721. Ni, Heイオン照射, 300℃, 84s, DF, 50K., [19]'96 1/12.

 アイテム
資料番号: L-104721
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)84s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'96 1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104722. Ni, Heイオン照射, 300℃, 84s, DF, 100K., [19]'96 1/12.

 アイテム
資料番号: L-104722
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)84s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [19]'96 1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104723. Ni, Heイオン照射, 300℃, 84s, DF, 100K., [19]'96 1/12.

 アイテム
資料番号: L-104723
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)84s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [19]'96 1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104724. Ni, Heイオン照射, 300℃, 84s, DF, 100K., [19]'96 1/12.

 アイテム
資料番号: L-104724
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)84s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [19]'96 1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104725. Ni, Heイオン照射, 300℃, 84s, DF, 50K., [19]'96 1/12.

 アイテム
資料番号: L-104725
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)84s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'96 1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104726. Ni, Heイオン照射, 300℃, 84s, DF, 50K., [19]'96 1/12.

 アイテム
資料番号: L-104726
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)84s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'96 1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104727. Ni, Heイオン照射, 300℃, 700s, DF, 100K., [19]'96 1/12.

 アイテム
資料番号: L-104727
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'96 1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104728. Ni, Heイオン照射, 300℃, 700s, DF, 100K., [19]'96 1/12.

 アイテム
資料番号: L-104728
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'96 1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104729. Ni, Heイオン照射, 300℃, 700s, DF, 100K., [19]'96 1/12.

 アイテム
資料番号: L-104729
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'96 1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104730. Ni, Heイオン照射, 300℃, 700s, DF, 100K., [19]'96 1/12.

 アイテム
資料番号: L-104730
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'96 1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104731. Ni, Heイオン照射, 300℃, 700s, DF., [19]'96 1/12.

 アイテム
資料番号: L-104731
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [19]'96 1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104732. Ni, Heイオン照射, 300℃, 700s, DF., [19]'96 1/12.

 アイテム
資料番号: L-104732
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [19]'96 1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104733. Ni, Heイオン照射, 300℃, 700s, DF., [19]'96 1/12.

 アイテム
資料番号: L-104733
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [19]'96 1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104734. Ni, Heイオン照射, 300℃, 700s, DF, 50K., [19]'96 1/12.

 アイテム
資料番号: L-104734
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)700s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'96 1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105213. Ni, ED., [1996年]2月20日.

 アイテム
資料番号: L-105213
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　area A.

日付: [1996年]2月20日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105214. Ni, ED., [1996年]2月20日.

 アイテム
資料番号: L-105214
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　area A.

日付: [1996年]2月20日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105404. Ni, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105404
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)GB　α　0.黒12（200）.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105405. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 20K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105405
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)α.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105406. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 20K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105406
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)α.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105407. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105407
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105408. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105408
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105409. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105409
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105410. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105410
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105411. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105411
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105412. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105412
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105413. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105413
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　上2.5黒19（120）.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105414. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

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資料番号: L-105414
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105415. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

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資料番号: L-105415
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105416. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1996年3月12日.]

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資料番号: L-105416
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105417. Ni, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1996年3月12日.]

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資料番号: L-105417
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105418. Ni, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105418
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105419. Ni, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105419
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105420. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 10K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105420
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)B.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105421. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 10K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105421
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)C.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105422. Ni, RTNS-II, 290℃, M, BF, 10K., [1996年3月12日.]

 アイテム
資料番号: L-105422
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1996年3月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105458. Ni, JMTR, 573K, DF, 100K., [1996年3月10日.]

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資料番号: L-105458
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)573K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)α　上14、赤2（0）.

日付: [1996年3月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105459. Ni, JMTR, 573K, ED., [1996年3月10日.]

 アイテム
資料番号: L-105459
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)573K. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1996年3月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105460. Ni, JMTR, 573K, DF, 100K., [1996年3月10日.]

 アイテム
資料番号: L-105460
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)573K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1996年3月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105461. Ni, JMTR, 573K, DF, 100K., [1996年3月10日.]

 アイテム
資料番号: L-105461
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)573K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1996年3月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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