メインコンテンツへスキップ

ニッケル

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4542. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4542
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4543. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4543
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4544. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4544
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4545. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4545
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4546. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4546
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4547. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4547
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4548. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4548
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4549. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4549
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4550. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4550
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4551. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4551
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4552. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4552
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4553. Ni, A3, RTNS-II　, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4553
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4554. Ni, A3, RTNS-II　, SS., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4554
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4555. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4555
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4556. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4556
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4557. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4557
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4558. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4558
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4559. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4559
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4560. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4560
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4561. Ni, A3, RTNS-II　, SS, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4561
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4562. Ni, A3, RTNS-II　, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4562
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4563. Ni, A3, RTNS-II　, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4563
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ε＝2％　Annealing Exp.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4564. Ni, A3, RTNS-II　, SS., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4564
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A3. (照射条件)RTNS-II　. (照射量)SS.

(備考)失敗.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5445. Ni, A-1, RTNS-II, 300K, SS, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5445
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5446. Ni, A-7, 300K, S, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5446
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5447. Ni, A-7, 300K, S, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5447
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5448. Ni, A-7, 300K, S, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5448
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5449. Ni, A-1, 300K, SS, 11K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5449
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)11K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5450. Ni, A-7, 300K, S, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5450
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5451. Ni, A-7, 300K, S, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5451
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5452. Ni, A-7, 300K, S, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5452
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5453. Ni, A-7, 300K, S, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5453
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5454. Ni, A-7, 300K, S, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5454
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5455. Ni, A-7, 300K, S, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5455
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5456. Ni, A-1, 300K, SS, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5456
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5457. Ni, A-1, 300K, SS, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5457
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5458. Ni, A-1, 300K, SS, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5458
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5459. Ni, A-1, 300K, SS, 31K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5459
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)31K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5460. Ni, A-1, 300K, SS, 31K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5460
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)31K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5461. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5461
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5462. Ni, A-1, 300K, SS, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5462
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5464. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5464
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5465. Ni, A-1, 300K, SS, 42K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5465
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)42K.

(備考)Thickness fring.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5466. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5466
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)Thickness fring.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5467. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5467
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5468. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5468
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5469. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5469
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5470. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5470
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5471. Ni, A-1, 300K, SS, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5471
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5472. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5472
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ