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11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5525. Ni, A-13, 300K, M, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5525
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)M. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5526. Ni, A-13, 300K, M, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5526
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)M. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5527. Ni, A-13, 300K, M, BF, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5527
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5528. Ni, A-13, 300K, M, BF, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5528
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5529. Ni, A-13, 300K, M, ED., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5529
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5530. Ni, A-19, 300K, W, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5530
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

(備考)Thickness fring.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5531. Ni, A-19, 300K, W, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5531
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5532. Ni, A-19, 300K, W, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5532
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5533. Ni, A-19, 300K, W, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5533
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5534. Ni, A-19, 300K, W, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5534
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5535. Ni, A-19, 300K, W, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5535
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5536. Ni, A-19, 300K, W, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5536
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5537. Ni, A-19, 300K, W, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5537
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5538. Ni, A-19, 300K, W, BF, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5538
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5539. Ni, A-19, 300K, W, BF, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5539
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5540. Ni, A-19, 300K, W, ED., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5540
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-19. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5541. Ni, A-26, 300K, WW, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5541
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

(備考)Thickness fring.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5542. Ni, A-26, 300K, WW, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5542
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5543. Ni, A-26, 300K, WW, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5543
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5544. Ni, A-26, 300K, WW, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5544
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5545. Ni, A-26, 300K, WW, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5545
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5546. Ni, A-26, 300K, WW, 210K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5546
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5547. Ni, A-26, 300K, WW, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5547
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5548. Ni, A-26, 300K, WW, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5548
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5549. Ni, A-26, 300K, WW, BF., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5549
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5550. Ni, A-26, 300K, WW, BF., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5550
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5551. Ni, A-26, 300K, WW, ED., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5551
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-26. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5586. Ni, A-13, 300K, W, 80K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5586
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)80K.

(備考)液体窒素中2%変形.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5587. Ni, A-13, 300K, W, 80K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5587
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)80K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5588. Ni, A-13, 300K, W, 80K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5588
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)80K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5589. Ni, A-13, 300K, W, 80K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5589
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)80K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5590. Ni, A-13, 300K, W, 80K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5590
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-13. (照射温度)300K. (照射量)W. (条件・倍率等)80K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5591. Ni, A-11, 300K, M, 80K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5591
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-11. (照射温度)300K. (照射量)M. (条件・倍率等)80K.

(備考)液体窒素中2%変形.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5592. Ni, A-11, 300K, M, 80K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5592
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-11. (照射温度)300K. (照射量)M. (条件・倍率等)80K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5593. Ni, A-11, 300K, M, 80K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5593
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-11. (照射温度)300K. (照射量)M. (条件・倍率等)80K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5594. Ni, A-11, 300K, M, 80K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5594
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-11. (照射温度)300K. (照射量)M. (条件・倍率等)80K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5595. Ni, A-11, 300K, M, 80K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5595
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-11. (照射温度)300K. (照射量)M. (条件・倍率等)80K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5596. Ni, A-11, 300K, M, 80K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5596
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-11. (照射温度)300K. (照射量)M. (条件・倍率等)80K.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6196. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6196
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「60年5月7日」.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6197. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6197
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6198. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6198
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6199. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6199
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6200. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6200
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6201. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6201
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6202. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6202
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6203. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6203
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6204. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6204
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6205. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6205
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6206. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6206
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6207. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, ED., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6207
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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