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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6567. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6567
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)50℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6568. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6568
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)50℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6569. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6569
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)50℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6570. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6570
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)50℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6571. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6571
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)100℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6572. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6572
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)100℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6573. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6573
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)100℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6574. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6574
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)100℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6575. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6575
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6576. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6576
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6577. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6577
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6578. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6578
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6579. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6579
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6580. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6580
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6581. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6581
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6582. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6582
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6583. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6583
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6584. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6584
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6585. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6585
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6586. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6586
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6587. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6587
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6588. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6588
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6589. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6589
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6590. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6590
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6591. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6591
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6592. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6592
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6593. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6593
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (反射ベクトルg)s＝0.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6594. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6594
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (反射ベクトルg)s＝0.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7487. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7487
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)TW　Bulk　TEM内焼鈍.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7488. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7488
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7489. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7489
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7490. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7490
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7491. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7491
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7492. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7492
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7493. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7493
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7494. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7494
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)RT A.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7495. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7495
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)RT A.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7496. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7496
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)RT B.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7497. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7497
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)RT B.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7498. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7498
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)RT C.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7499. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7499
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)RT C.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7500. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7500
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)50℃ C.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7501. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7501
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)50℃ C.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7502. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7502
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)50℃ B.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7503. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7503
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)50℃ B.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7504. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7504
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)50℃ A.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7505. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7505
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)50℃ A.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7506. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7506
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)100℃ A.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7507. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7507
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)100℃ A.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7508. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7508
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)100℃ B.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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