メインコンテンツへスキップ

ニッケル

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14261. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14261
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)始点.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14262. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14262
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14263. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14263
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)1 α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14264. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14264
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)2 α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14265. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14265
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)3 α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14266. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14266
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)4 α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14267. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14267
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)5 α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14268. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14268
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14269. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14269
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14270. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14270
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14271. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14271
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14272. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14272
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14273. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14273
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14274. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14274
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14275. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14275
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0(α側）.

(備考)1の隣.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14276. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14276
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)2の隣.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14277. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14277
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)3の隣.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14278. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14278
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)4と1の間（近い所にある）.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14386. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14386
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14387. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14387
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14388. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14388
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14389. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14389
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14390. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14390
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14391. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14391
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14392. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14392
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　2.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14393. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14393
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　3.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14394. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14394
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　4.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14395. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14395
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　5.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14396. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14396
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　6.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14397. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14397
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　7.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14398. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14398
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　8.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14399. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14399
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　9.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14400. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14400
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14401. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14401
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　以下08までの間で1-9のはずだが、どれか抜け.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14402. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14402
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14403. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14403
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14404. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14404
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14405. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14405
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14406. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14406
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14407. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14407
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14408. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14408
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14409. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14409
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14410. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14410
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)1 近く.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14411. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14411
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)9 近く　α側のfringe.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14521. Ni, Ae901, RTNS-II, 350℃, W, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14521
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)contami べっとり　だめ.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14522. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14522
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)以下30まで　デモ用SFT.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14523. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14523
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14524. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14524
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14525. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14525
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14526. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14526
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ