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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7610. Ni, A26, RTNS=II, 400K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7610
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7611. Ni, A26, RTNS=II, 400K, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7611
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)400K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7612. Ni, A23, RTNS=II, 200K, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7612
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7613. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7613
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7614. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7614
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7615. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7615
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7616. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7616
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7617. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7617
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7618. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7618
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7619. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7619
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7620. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7620
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7621. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7621
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7622. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7622
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7623. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7623
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7624. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7624
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7625. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7625
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7626. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7626
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7627. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7627
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7628. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7628
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7629. Ni, A23, RTNS=II, 200K, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7629
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7630. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7630
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7631. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7631
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7632. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7632
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7633. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7633
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7634. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7634
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7635. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7635
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7636. Ni, A23, RTNS=II, 200K, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7636
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7637. Ni, A510松井, RTNS=II, 20K-->300K, M, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7637
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A510松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7638. Ni, A510松井, RTNS=II, 20K-->300K, M., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7638
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A510松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7639. Ni, A510松井, RTNS=II, 20K-->300K, M., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7639
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A510松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7640. Ni, A510松井, RTNS=II, 20K-->300K, M., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7640
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A510松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7641. Ni, A510松井, RTNS=II, 20K-->300K, M., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7641
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A510松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7642. Ni, A510松井, RTNS=II, 20K-->300K, M., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7642
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A510松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7643. Ni, A510松井, RTNS=II, 20K-->300K, M, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7643
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A510松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7644. Ni, A519松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7644
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A519松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7645. Ni, A519松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7645
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A519松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7646. Ni, A519松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7646
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A519松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7647. Ni, A519松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7647
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A519松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

(備考)2枚.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7648. Ni, A519松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

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資料番号: O-7648
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A519松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7649. Ni, A519松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

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資料番号: O-7649
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A519松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7650. Ni, A519松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

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資料番号: O-7650
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A519松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7651. Ni, A519松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, ED., [1985年6月13日.]

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資料番号: O-7651
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A519松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7985. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

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資料番号: O-7985
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)日付元記載「60/6/26」.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7986. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

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資料番号: O-7986
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7987. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

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資料番号: O-7987
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7988. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7988
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7989. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 210K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7989
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7990. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, ED., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7990
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)上2.1　赤の12-15　180.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7991. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7991
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7992. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7992
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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