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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8178. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8178
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8179. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8179
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8180. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8180
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8181. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8181
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8182. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8182
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8183. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8183
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8184. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8184
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8185. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8185
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8186. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8186
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8187. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8187
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8188. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8188
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8189. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8189
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8190. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8190
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8191. Ni, A704木下, RTNS-II, WW, ED., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8191
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8192. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8192
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

(備考)汚れ 薄い.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8193. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8193
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8194. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8194
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8195. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8195
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8196. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8196
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8197. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8197
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8198. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8198
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8199. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8199
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8200. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8200
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8201. Ni, λ111木下, RTNS-II, M, ED., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8201
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8202. Ni, A695木下, RTNS-II, W., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8202
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A695木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8203. Ni, A695木下, RTNS-II, W., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8203
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8204. Ni, A695木下, RTNS-II, W., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8204
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8205. Ni, A695木下, RTNS-II, W., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8205
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8206. Ni, A695木下, RTNS-II, W., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8206
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8207. Ni, A695木下, RTNS-II, W., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8207
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8208. Ni, A695木下, RTNS-II, W., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8208
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8209. Ni, A695木下, RTNS-II, W., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8209
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8210. Ni, A695木下, RTNS-II, W, ED., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8210
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8211. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8211
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8212. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8212
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8213. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8213
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8214. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8214
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8215. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8215
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8216. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8216
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8217. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8217
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8218. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

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資料番号: O-8218
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

(備考)同じ視野.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8219. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8219
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8220. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8220
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8221. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8221
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8222. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8222
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8223. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8223
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8224. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8224
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8225. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8225
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8226. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8226
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8509. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8509
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)日付元記載「7/8」.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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