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11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8710. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8710
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8711. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8711
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8712. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, ED., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8712
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8713. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8713
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8714. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, EF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8714
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)EF.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8715. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8715
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8716. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, ED., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8716
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8717. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, ED., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8717
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8718. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8718
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8719. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8719
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8720. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, DF., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8720
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8721. Ni, λ114木下, RTNS-II, W, ED., 1985/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8721
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8722. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8722
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A. 日付元記載「85/11/16」.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8723. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8723
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8724. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8724
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8725. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8725
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8726. Ni, A677木下, RTNS-II, W, ED., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8726
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8727. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8727
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8728. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8728
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8729. Ni, A677木下, RTNS-II, W, ED., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8729
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8730. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8730
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8731. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8731
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)E.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8732. Ni, A677木下, RTNS-II, W, ED., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8732
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8733. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8733
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8734. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8734
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)E.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8735. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8735
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D3 annealed and polished again.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8736. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8736
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8737. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8737
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8738. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8738
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8739. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8739
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)Fringe.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8740. Ni, A726木下, RTNS-II, ED, 52cm., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8740
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)52cm.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8763. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8763
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II.

(備考)Polishied after annealing experiment.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8764. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8764
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II.

(備考)A726 ?.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8765. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8765
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8766. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8766
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8767. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8767
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8768. Ni, A476, RTNS-II, ED, 57cm., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8768
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8769. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8769
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8770. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8770
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8771. Ni, A476, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8771
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8772. Ni, A476, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8772
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8773. Ni, A476, RTNS-II, BF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8773
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8774. Ni, A476, RTNS-II, DE, 57cm., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8774
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8775. Ni, A476, RTNS-II, DF, 800K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8775
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)800K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8776. Ni, A476, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8776
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8777. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8777
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8778. Ni, A476, RTNS-II, ED, 57cm., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8778
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8779. Ni, A476, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8779
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8780. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8780
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8781. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8781
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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