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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8783. Ni, A476, RTNS-II, ED, 57cm., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8783
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8784. Ni, A476, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8784
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)Fringe.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8785. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8785
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8786. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8786
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8798. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8798
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8799. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8799
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8800. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8800
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8801. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8801
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8802. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8802
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8803. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8803
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8804. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8804
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8805. Ni, A701木下, RTNS-II, WW, ED., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8805
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8806. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8806
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8807. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8807
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8808. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8808
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8809. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8809
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8810. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8810
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8811. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8811
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8812. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8812
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8813. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8813
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8814. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8814
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8815. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8815
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8816. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8816
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8817. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8817
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8818. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8818
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8819. Ni, A701木下, RTNS-II, WW., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8819
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8820. Ni, A701木下, RTNS-II, WW, ED., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8820
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A701木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8821. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8821
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8822. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8822
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8823. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8823
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8824. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8824
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8825. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8825
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8826. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8826
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8827. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8827
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8828. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8828
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8829. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8829
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8830. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8830
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8831. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8831
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8832. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8832
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8833. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8833
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8834. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

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資料番号: O-8834
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8835. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8835
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10390. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1985年8月3日.]

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資料番号: O-10390
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　-5.0,8（260）C3 .

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10391. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10391
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10392. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

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資料番号: O-10392
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10393. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10393
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10394. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

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資料番号: O-10394
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10395. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10395
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10396. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, BF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10396
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10397. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, BF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10397
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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