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件名：ソース: Ku Peek

11193 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10398. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10398
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10399. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10399
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10400. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10400
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10401. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10401
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10402. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10402
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10403. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10403
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10404. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10404
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10405. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10405
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10406. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10406
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10407. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10407
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　A　　-15、6（20）C3　.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10408. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10408
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10409. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10409
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10410. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10410
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10411. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10411
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10412. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10412
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10413. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10413
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10414. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10414
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10415. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10415
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　A.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10416. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10416
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　B.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10417. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10417
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10418. Ni, Z1 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10418
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)Z1 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　A　Disl.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10419. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 31K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10419
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Bulk yoshiie polish.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10420. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 31K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10420
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10421. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10421
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10422. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10422
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10423. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10423
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)失敗.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10424. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10424
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10425. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10425
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10426. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10426
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10427. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10427
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10428. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10428
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-10429. Ni, A62 Heinish, RTNS-II, 290℃, SS, DF., [1985年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-10429
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A62 Heinish. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14852. Ni, MK-38, RTNS-II, DF, 52K., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14852
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)Cryotransfer実験　A. 日付元記載「1985. 11. 25.」.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14853. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14853
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14854. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14854
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　4.5ｍV.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14855. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14855
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ミス.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14856. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14856
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14857. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14857
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)0.5A　-100℃　0′10″.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14858. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14858
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)1′30″.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14859. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14859
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)2′30″.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14860. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14860
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)4′15″.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14861. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14861
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)5′45″ just focus.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14862. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14862
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)6′10″ over 3 step.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14863. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14863
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)6′25″ under 3 step.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14864. Ni, MK-38, RTNS-II, DF, 52K., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14864
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14865. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14865
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14866. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14866
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14867. Ni, MK-38, RTNS-II, ED., 1985. 11. 25.

 アイテム
資料番号: O-14867
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)日付元記載「1985. 11. 25.　ここまで　 pm10:00」.

日付: 1985. 11. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14868. Ni, MK-38, RTNS-II, DF, 52K., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14868
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　-50℃ 0.55A. 日付元記載「1985. 11. 26.」.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-14869. Ni, MK-38, RTNS-II, DF., 1985. 11. 26.

 アイテム
資料番号: O-14869
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)MK-38. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1985. 11. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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